ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
28
взаимодействия между зондом и поверхностью образца. Величина DFL
прямо пропорциональна силе взаимодействия. При использовании метода
постоянной высоты сканер микроскопа поддерживает закрепленный конец
кантилевера на постоянной высоте. Таким образом, отклонения
кантилевера отражают рельеф поверхности исследуемого образца (рис.1.16
(А)).
Основным достоинством метода постоянной высоты является
высокая скорость сканирования. Она ограничивается практически только
резонансными свойствами кантилевера. К недостаткам метода постоянной
высоты относится требование достаточной гладкости поверхности
образцов. При исследованиях достаточно мягких образов (подобно
полимерам, биологическим объектам и т.д.) они могут разрушаться или
процарапываться, поскольку зонд находиться в непосредственном
механическим контакте с поверхностью [2].
А) Б)
Рис. 1.16. Прохождение зонда АСМ в методе постоянной высоты (А) и методе
постоянной силы (Б) [2]
При использовании метода постоянной силы величина изгиба
кантилевера поддерживается в процессе сканирования постоянной при
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 26
- 27
- 28
- 29
- 30
- …
- следующая ›
- последняя »
