Способы исследования поверхности методами атомно-силовой и электронной микроскопии. Нагорнов Ю.С - 33 стр.

UptoLike

33
части периода колебаний зонд «ощущает» контактные отталкивающие
силы. Особенно это касается колебаний с большой амплитудой.
Рис.1.19. Схематичное представление принципа выбора рабочей точки. Z
0
расстояние
между острием зонда и поверхностью [1]
Сканирование поверхности образца с колеблющимся кантилевером
является не бесконтактным, а скорее прерывисто-контактным. Выбор
расстояния от поверхности образца до острия зонда или выбор рабочей
точки осуществляется из условия изменения частоты колебаний
кантилевера (рис.1.19). При этом работа АСМ происходит в режиме
отталкивания острия зонда и небольшого участка притяжения.
Соответствующий метод сканирующей силовой микроскопии назван
прерывисто-контактныи или полуконтактным методом.
Полуконтактный метод обладает определенными преимуществами
по сравнению контактными методами. Прежде всего, при использовании
этого метода давление кантилевера на поверхность образца существенно