Способы исследования поверхности методами атомно-силовой и электронной микроскопии. Нагорнов Ю.С - 35 стр.

UptoLike

35
Рис.1.20. Изменение фазы колебаний на различных участках образца при
сканировании [2]
Распределение фазового сдвига по поверхности будет отражать
распределение характеристик материала образца. Метод отображения
фазы позволяет получать ценную информацию в широкой области
применений, в некоторых случаях отображая неочевидные контрасты
свойств материалов. Этот метод используется, например, для
исследований биологических объектов, образцов с магнитными и
электрическими характеристиками, а также для ряда других применений
(рис.1.21).
Рис. 1.21. АСМ изображение поверхности пленки полиэтилена с размером 1x1 мкм [2]:
а) рельеф поверхности, полученный в режиме постоянной амплитуды;
б) соответствующее распределение фазового контраста