ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
45
2.2 Сканирующая электронная микроскопия как метод изучения
микроскопических объектов электролитического происхождения
Несколько десятилетий сканирующая электронная микроскопия не
перестаёт быть едва ли не основным инструментом получения
фундаментальных знаний в разделе наук о материалах, превратившись в
достаточно привычный атрибут современных лабораторий. Невозможно
представить себе быстрое и точное решение ряда задач без использования
сканирующей электронной микроскопии. Широта применения этого
метода обусловлена его высокой информативностью и универсальностью,
а также простотой и удобством управления современным оборудованием.
Сканирующая электронная микроскопия обладает рядом
преимуществ по сравнению с другими методами. Например, по сравнению
с традиционной световой микроскопией она отличается значительно
бóльшими разрешающей способностью и глубиной резкости;
относительной легкостью в интерпретации полученных изображений
благодаря их трёхмерному представлению; возможностью подключения
дополнительных приборов для анализа в микродиапазоне, при достаточной
простоте в адаптации и управлении этими приборами. Также необходимо
отметить сравнительно низкие требования к пробоподготовке. По
сравнению со сканирующей зондовой сканирующая электронная
микроскопия позволяет исследовать существенно бóльшие участки
поверхности; работать с сильно рельефными поверхностями; использовать
значительно более широкий диапазон увеличений; получать информацию
не только о поверхности, но и о прилегающих к поверхности
«подповерхностных» слоях [9].
В связи с разработкой новых материалов и технологий в последние
годы резко возрос интерес к исследованию особенностей физических
свойств и структуры малых частиц. Отличие свойств малых частиц от
свойств массивных образцов было замечено уже давно и используется в
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 43
- 44
- 45
- 46
- 47
- …
- следующая ›
- последняя »
