Способы исследования поверхности методами атомно-силовой и электронной микроскопии. Нагорнов Ю.С - 51 стр.

UptoLike

Составители:

Рубрика:

различие между сферическим и полусферическим габитусом выявить не

удаётся (рис. 2.5 а, б).

Представленное в работе [11] доказательство носило косвенный

характер и в этом смысле наличие ещё одного независимого

экспериментального доказательства позволило бы более обоснованно

утверждать об указанном поведении температуры.

Для получения еще одного доказательства были проведены

дополнительные исследования электроосаждённых микрокристаллов

серебра. В процессе электронно-микроскопического анализа полученных

микрокристаллов серебра было выявлено, что среди многообразия

морфологических форм возможно образование микрокристаллов с

полостью внутри (рис. 2.6) как в форме многогранников (микрокристаллы

правильной формы, рис 2.6 а), так и кристаллов, содержащих дефект

дисклинационного типа (пентагональные микрокристаллы, рис. 2.6 б) [12].

Внутренняя поверхность полостей полученных микрокристаллов

исследовалась с помощью сканирующего электронного микроскопа.

а)

б)

Рис. 2.5

Габитус звёздчатых многогранников с пентагональной симметрией,

сформировавшихся из икосаэдрических кластеров при электрокристаллизации меди

(электронный пучок перпендикулярен к подложке)