ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
54
а)
б)
Рис. 2.7 Дендритная морфология внутренней поверхности полости, выявленная с
помощью сканирующего электронного микроскопа в микрокристалле серебра
электролитического происхождения: а) электронно-микроскопическое изображение
микрокристалла серебра с полостью внутри, квадратом на рисунке обозначена область,
представленная на рис. 2.6 б; б) дендриты в полости микрокристалла серебра
(обозначены стрелками).
Тем не менее, при таких скоростях охлаждения кристаллизация
носит сильно неравновесный характер результатом которой может быть
образование дендритов [13]. Например, в некоторых сплавах (бинарные
системы Fe-B) формирование фрактальных структур (дендритов) было
экспериментально отмечено и методом компьютерного моделирования
подтверждено при скоростях охлаждения около 10
6
К/s [17].
Таким образом, дендриты в полости микрокристаллов
электролитического происхождения образуются в результате локального
повышения и последующего падения температуры в процессе эволюции
островка роста. Электронно-микроскопические изображения (рис. 2.7)
являются ещё одним подтверждением модели, представленной ранее в
работе [13], согласно которой образование кристаллов правильной формы
и пентагональных кристаллов возможно только при прохождении островка
роста в процессе его эволюции через высокотемпературное состояние.
Представленные примеры показывают насколько важен выбор
методики исследования микроскопического объекта по отношению к
проверке сформулированной гипотезы или математической модели. Метод
сканирующей электронной микроскопии как и любой другой
экспериментальный метод обладает рядом достоинств и недостатков. В
этом смысле правильное методическое построение эксперимента позволит
избежать получения артефактов в процессе исследования, выявить
скрытые структурные особенности и ответить на ряд вопросов, связанных
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 52
- 53
- 54
- 55
- 56
- …
- следующая ›
- последняя »
