ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
56
ЗАКЛЮЧЕНИЕ
Таким образом, в настоящем учебном пособии представлена
современная научная информация о возможностях атомно-силовой и
электронной сканирующей микроскопии. При описании принципа работы
атомно-силового микроскопа были представлены его технические
особенности, которые необходимо учитывать при работе с различными
материалами. В частности приведены характерные особенности методик
атомно-силовой микроскопии, которые позволяют не только
визуализировать микромир поверхности, но и получать дополнительную
информацию о ее свойствах.
Режим фазового контраста позволяет оценить морфологию
поверхности в условиях небольших изменений высоты вплоть до 2-10 нм
на фоне больших изменений поверхности или оценить химический и
фазовый состав. Метод Зонда Кельвина позволяет изучать распределение
поверхностного потенциала по образцу. Метод латеральных сил позволяет
различать области с различными коэффициентами трения, а также
подчеркивать особенности рельефа поверхности. В каждом отдельном
случае необходимо выбирать методику измерений в зависимости от целей
исследования и структуры образца.
Во второй главе рассмотрены принцип работы электронного
сканирующего микроскопа и примеры реализации различных методик
СЭМ как инструментария для исследования микроскопических объектов
электролитического происхождения. Продемонстрированы методические
приемы получения электронно-микроскопических изображений. В
частности, продемонстрированы методические приемы получения
изображений в электронной сканирующей микроскопии, позволяющие
однозначно идентифицировать габитус микрокристаллов, а также способы
получения изображений из внутренних поверхностей полостей
