ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
58
СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ
1. Миронов В. Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии. Учебное
пособие для студентов старших курсов высших учебных заведени. РАН.
Институт физики микроструктур. Нижний Новгород, 2004 г.114с.
2. Интернет-сайт компании «НТ-МДТ» http://www.ntmdt.ru
3. Биргер И.А., Шорр Б.Ф., Иосилевич Г.Б.– Расчет на прочность деталей
машин // М.: Машиностроение, 1979, 702 с.
4. Bennig G.K. Atomic force microscope and method for imaging surfaces
with atomic resolution. US Patent 4,724,318.
5. Martin Y., Williams C.C. and Wickramasinghe H.K. Atomic force
microscope–force mapping and profiling on a sub 100-Å scale // J. Appl. Phys.
61, 4723 (1987) http://dx.doi.org/10.1063/1.338807.
6. Meyer G. and Amer N.M. Erratum: Novel optical approach to atomic force
microscopy // Appl. Phys. Lett. 53, 2400 (1988).
7. Dürig U., Gimzewski J.K. and Pohl D.W. Experimental Observation of
Forces Acting during Scanning Tunneling Microscopy // Phys. Rev. Lett. 57,
2403–2406 (1986).
8. Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия, Синдо Д.,
Оикава Т. Техносфера, 2006.
9. Криштал М.М. , Ясников И.С. , Полунин В.И., Филатов А.М. ,
Ульяненков А.Г. Сканирующая электронная микроскопия и
рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического
применения (Серия «Мир физики и техники» II-15) // Издательство
Техносфера. Москва, 2009. 208 с.
10. Викарчук А.А. , Ясников И.С. Особенности массо- и теплообмена в
микро- и наночастицах, формирующихся при электрокристаллизации меди
// Физика твёрдого тела. 2006. Т. 48, Вып. 3. С. 536-539.
