Моделирование энергетического спектра в полупроводниковых наноструктурах методом пристрелки. Агарев В.Н.

UptoLike

Моделирование энергетического спектра в полупроводниковых наноструктурах методом пристрелки. Агарев В.Н.

РЕШЕНИЕ (файл) вывод, красное-белое: 

Составители: 

Формат файла: 

PDF

Ключевые слова: 

  • методические указания

Год: 

  • 2008

Количество страниц: 

6
Теоретический анализ наноструктур затруднен тем, что точно могут быть решены только некоторые простые задачи. Поэтому распространенным методом теоретического анализа наноструктур является метод компьютерного моделирования. Целью настоящей работы является освоение компьютерного моделирования энергетического спектра в полупроводниковых наноструктурах методом пристрелки. Приведены постановка задачи, математическая модель, алгоритм решения, порядок выполнения работы, пример моделирования в пакете MATHEMATICA.

Рекомендуемые учебно-методические материалы

Агарев В.Н.
Агарев В.Н. Моделирование резонансного туннелирования в полупроводниковых наноструктурах: Описание лабораторной работы. - Нижний Новгород: Нижегородский гос. ун-т им. Н.И. Лобачевского, 2008. - 5 с.
Агарев В.Н.
Агарев В.Н. Моделирование энергетического спектра в полупроводниковых наноструктурах методом пристрелки: Описание лабораторной работы. - Нижний Новгород: Нижегородский гос. ун-т им. Н.И. Лобачевского, 2008. - 6 с.
Байдусь Н.В., Звонков Б.Н.
Байдусь Н.В., Звонков Б.Н. Выращивание полупроводниковых гетероструктур с квантовыми точками InAs/GaAs методом ГФЭ МОС: Описание лабораторной работы. - Нижний Новгород: ННГУ им. Н.И. Лобачевского, 2001. - 18 с.
Байдусь Н.В., Звонков Б.Н.
Байдусь Н.В., Звонков Б.Н. Выращивание эпитаксиальных слоев арсенида галия методом газофазной эпитаксии из металлоорганических соединений: Описание лабораторной работы. - Нижний Новгород: ННГУ им. Н.И. Лобачевского, 1999. - 16 с.
Ершов А.В., Машин А.И., Касьянов Д.Е.
Ершов А.В., Машин А.И., Касьянов Д.Е. Инфракрасная спектроскопия аморфного кремния: Лабораторная работа по курсу "Физика аморфных полупроводников". - Нижний Новгород: ННГУ им. Н.И. Лобачевского, 2001. - 24 с.
Филатов Д.О., Круглов А.В.
Филатов Д.О., Круглов А.В. Исследование поверхности твердых тел методом сканирующей туннельной микроскопии (СТМ). Описание лабораторной работы. - Нижний Новгород: НОЦ СЗМ Нижегородского государственного университета, 2001. - 22 с.