Выращивание полупроводниковых гетероструктур с квантовыми точками InAs/GaAs методом методом газофазной эпитаксии из металлоорганических соединений. Байдусь Н.В

UptoLike

Выращивание полупроводниковых гетероструктур с квантовыми точками InAs/GaAs методом методом газофазной эпитаксии из металлоорганических соединений. Байдусь Н.В

РЕШЕНИЕ (файл) вывод, красное-белое: 

Составители: 

Формат файла: 

PDF

Ключевые слова: 

  • методические указания

Количество страниц: 

18
В пособии описаны основы технологии роста гетероструктур с квантовыми точками методом газофазной эпитаксии из металлоорганических соединений (ГФЭ МОС). Цель работы: освоение основных принципов и экспериментальных навыков эпитаксиального выращивания полупроводниковых гетероструктур с квантовыми точками на основе арсенида галлия. Подготовлено в Научно-исследовательском физико-технологическом институте ННГУ.

Рекомендуемые учебно-методические материалы

Агарев В.Н.
Агарев В.Н. Моделирование резонансного туннелирования в полупроводниковых наноструктурах: Описание лабораторной работы. - Нижний Новгород: Нижегородский гос. ун-т им. Н.И. Лобачевского, 2008. - 5 с.
Агарев В.Н.
Агарев В.Н. Моделирование энергетического спектра в полупроводниковых наноструктурах методом пристрелки: Описание лабораторной работы. - Нижний Новгород: Нижегородский гос. ун-т им. Н.И. Лобачевского, 2008. - 6 с.
Байдусь Н.В., Звонков Б.Н.
Байдусь Н.В., Звонков Б.Н. Выращивание полупроводниковых гетероструктур с квантовыми точками InAs/GaAs методом ГФЭ МОС: Описание лабораторной работы. - Нижний Новгород: ННГУ им. Н.И. Лобачевского, 2001. - 18 с.
Байдусь Н.В., Звонков Б.Н.
Байдусь Н.В., Звонков Б.Н. Выращивание эпитаксиальных слоев арсенида галия методом газофазной эпитаксии из металлоорганических соединений: Описание лабораторной работы. - Нижний Новгород: ННГУ им. Н.И. Лобачевского, 1999. - 16 с.
Ершов А.В., Машин А.И., Касьянов Д.Е.
Ершов А.В., Машин А.И., Касьянов Д.Е. Инфракрасная спектроскопия аморфного кремния: Лабораторная работа по курсу "Физика аморфных полупроводников". - Нижний Новгород: ННГУ им. Н.И. Лобачевского, 2001. - 24 с.
Филатов Д.О., Круглов А.В.
Филатов Д.О., Круглов А.В. Исследование поверхности твердых тел методом сканирующей туннельной микроскопии (СТМ). Описание лабораторной работы. - Нижний Новгород: НОЦ СЗМ Нижегородского государственного университета, 2001. - 22 с.