Перспективы применения наноматериалов в космической технике. Новиков Л.С - 69 стр.

                          Методы производства наноматериалов

ным экраном (рис. 2.4). При условии, что диаметр заостренного
конца волновода d и расстояние h, на которое зонд приближает-
ся к исследуемой поверхности, меньше длины волны рас-
пространяющегося по волноводу
света (стрелка), в очерченной
пунктиром области между зон-
дом и поверхностью образца
формируется сложная волновая
структура, благодаря которой
снимается дифракционное огра-           h         d
ничение на разрешение. В каче-
стве источника света в таких
микроскопах используются ге-
лий-неоновые или аргоновые
лазеры, а кванты света, уходя- Рис. 2.4. Схема оптического
                                     зонда ближнего поля
щие из области ближнего свето-
вого поля, регистрируются фото-
электронными умножителями, которые могут располагаться как
перед исследуемым образцом, так и позади него.
  Применение электронных микроскопов, в которых изображе-
ние исследуемого объекта строится с помощью хорошо сфоку-
сированных электронных пучков, также позволяет преодолеть
указанный выше предел дифракционного ограничения. Для элек-
тронов, движущихся в вакууме, выражение, определяющее длину
волны де Бройля λ (см. разд. 1.1), можно записать в виде:
                               1, 226
                          λ=            ,
                                  E
где [λ] – нм, [E] – эВ.
  Следовательно, уже при E = 100 эВ получим λ ~ 0,1 нм. Реаль-
но электронные микроскопы работают при энергиях электронных
пучков в десятки–сотни килоэлектронвольт.
  Электронные микроскопы делятся на два типа:
  ♦ просвечивающие, в которых пучок электронов проходит
      сквозь достаточно тонкий (~100 нм) исследуемый объект, а

                                                           69