Теоретический расчет рентгенограммы поликристалла. Панова Т.В - 2 стр.

UptoLike

Составители: 

Рубрика: 

3
Лабораторная работа
ТЕОРЕТИЧЕСКИЙ РАСЧЕТ РЕНТГЕНОГРАММЫ
ПОЛИКРИСТАЛЛА
Цель работыосвоение методов расчета теоретических ди-
фрактограмм и основ компьютерной структурной кристаллографии.
Принадлежности: компьютер PENTIUM.
ОСНОВНЫЕ ТЕОРЕТИЧЕСКИЕ СВЕДЕНИЯ
Рентгенографические методы широко используются в различ-
ных областях науки и техники. Имеется достаточное количество
монографий и учебников по физическим основам и по использова-
нию рентгенографии для исследования минералов, металлов, полу-
проводников и других классов соединений [1–4].
Современная кристаллография невозможна без прецизионного
оборудования для дифракционных исследований и сложных компь-
ютерных расчетов, результаты которых
необходимо сравнивать с
экспериментом. Среди обширного списка компьютерных программ
можно выделить класс программ, предназначенных для компьютер-
ного моделирования структур и расчета соответствующих интенсив-
ностей рассеяния, среди которых важное место занимает программа
PowderCell.
PowderCellэто программа для манипулирования кристалли-
ческими структурами и вычисления соответствующих порошковых
дифрактограмм. Цель этой программыинтуитивная генерация
начальных
структурных моделей для их последующего использова-
ния в процедурах уточнения, например в методе Ритвельда.
Теоретический расчет рентгенограммы поликристалла
Для расчета рентгенограммы поликристаллического вещества
необходимо определить положение дифракционных пиков и вычис-
лить относительную интегральную интенсивность [1].
1. Расчет межплоскостных расстояний.
Расчет межплоскостных расстояний для кристаллов высшей и
средних сингоний производят по квадратичным формам (см. табл.,
с. 4). Исходными данными для расчета являются периоды решетки,
находимые в литературе, и индексы интерференции, определяемые
из пространственной группы по законам погасаний [2].
4
                     Лабораторная работа
      ТЕОРЕТИЧЕСКИЙ РАСЧЕТ РЕНТГЕНОГРАММЫ
                 ПОЛИКРИСТАЛЛА
     Цель работы – освоение методов расчета теоретических ди-
фрактограмм и основ компьютерной структурной кристаллографии.
     Принадлежности: компьютер PENTIUM.

         ОСНОВНЫЕ ТЕОРЕТИЧЕСКИЕ СВЕДЕНИЯ
      Рентгенографические методы широко используются в различ-
ных областях науки и техники. Имеется достаточное количество
монографий и учебников по физическим основам и по использова-
нию рентгенографии для исследования минералов, металлов, полу-
проводников и других классов соединений [1–4].
      Современная кристаллография невозможна без прецизионного
оборудования для дифракционных исследований и сложных компь-
ютерных расчетов, результаты которых необходимо сравнивать с
экспериментом. Среди обширного списка компьютерных программ
можно выделить класс программ, предназначенных для компьютер-
ного моделирования структур и расчета соответствующих интенсив-
ностей рассеяния, среди которых важное место занимает программа
PowderCell.
      PowderCell – это программа для манипулирования кристалли-
ческими структурами и вычисления соответствующих порошковых
дифрактограмм. Цель этой программы – интуитивная генерация
начальных структурных моделей для их последующего использова-
ния в процедурах уточнения, например в методе Ритвельда.

     Теоретический расчет рентгенограммы поликристалла
      Для расчета рентгенограммы поликристаллического вещества
необходимо определить положение дифракционных пиков и вычис-
лить относительную интегральную интенсивность [1].
       1. Расчет межплоскостных расстояний.
       Расчет межплоскостных расстояний для кристаллов высшей и
средних сингоний производят по квадратичным формам (см. табл.,
с. 4). Исходными данными для расчета являются периоды решетки,
находимые в литературе, и индексы интерференции, определяемые
из пространственной группы по законам погасаний [2].
                               3                                  4