Определение размеров металлических наночастиц из спектров плазмонного резонанса. Парфенов В.В - 15 стр.

UptoLike

15
Для проведения лабораторной работы были приготовлены несколько
образцов с использованием подложек из натриево-кальциевого силикатного
стекла, в которых методом низкоэнергетической ионной имплантации были
синтезированы наночастицы серебра. Имплантация проводилась на
ускорителе ИЛУ-3 однозарядными ионами серебра Ag
+
с энергий 30 кэВ при
плотности тока в ионном пучке 7 мкА/см
2
при различных значениях ионной
дозы F
0
: 0.2510
16
, 0.510
16
и 1.010
17
ион/см
2
. Для оценки изменения
оптического пропускания подложек натриевого-кальциевого силикатного
стекла вследствие образования радиационных дефектов была проведена
имплантация стекол однозарядными ионами инертного газа ксенона.
Имплантация проводилась на ускорителе ИЛУ-3 (КФТИ КазНЦ РАН)
однозарядными ионами ксенона с энергий 30 кэВ при плотности тока в
ионном пучке 7 мкА/см
2
при различных значениях ионной дозы F
0
: 2.510
17
,
5.010
17
и 7.510
17
ион/см
2
.
3. Порядок выполнения работы
Измерение спектров оптического пропускания выполняется на
спектрофотометре СФ-2000 (рис. 5).
Рисунок 5. Спектрофотометр СФ-2000.
      Для проведения лабораторной работы были приготовлены несколько
образцов с использованием подложек из натриево-кальциевого силикатного
стекла, в которых методом низкоэнергетической ионной имплантации были
синтезированы      наночастицы    серебра.   Имплантация    проводилась   на
ускорителе ИЛУ-3 однозарядными ионами серебра Ag+ с энергий 30 кэВ при
плотности тока в ионном пучке 7 мкА/см2 при различных значениях ионной
дозы F0: 0.251016, 0.51016 и 1.01017 ион/см2. Для оценки изменения
оптического пропускания подложек натриевого-кальциевого силикатного
стекла вследствие образования радиационных дефектов была проведена
имплантация стекол однозарядными ионами инертного газа ксенона.
Имплантация проводилась на ускорителе ИЛУ-3 (КФТИ КазНЦ РАН)
однозарядными ионами ксенона с энергий 30 кэВ при плотности тока в
ионном пучке 7 мкА/см2 при различных значениях ионной дозы F0: 2.51017,
5.01017 и 7.51017 ион/см2.



3. Порядок выполнения работы

      Измерение     спектров   оптического    пропускания   выполняется   на
спектрофотометре СФ-2000 (рис. 5).




                     Рисунок 5. Спектрофотометр СФ-2000.




                                                                          15