ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
13
и столкновений с ядрами атомов, что приводит к появлению радиационных
дефектов, которые, в свою очередь, могут стимулировать обратимые и
необратимые изменения структуры материала. В случае высокодозовой
имплантации регистрируются различные типы структурных радиационных
нарушений, такие как протяженные и точечные дефекты, аморфизация и
локальная кристаллизация, формирование новой фазы из атомов,
составляющих структуру материала или внедренных ионов и т.д. [5]. Кроме
того, ионная имплантация может сопровождаться эффективным
распылением атомов поверхности облучаемого материала.
Рисунок 3. Схема основных физических стадий формирования наночастиц из
имплантируемой примеси в облучаемой матрице (в поперечном сечении) в
зависимости от ионной дозы. Рассматривается случай эффективного
распыления поверхности при ее облучении.
Главной отличительной особенностью низкоэнергетической ионной
имплантации от высокоэнергетической является различная глубина
проникновения имплантированных ионов в облучаемую матрицу. Данное
обстоятельство определяет функцию распределения ионно-синтезированных
МНЧ по глубине образца. В случае имплантации при низких энергиях, более
крупные частицы располагаются непосредственно вблизи поверхности, а
мелкие простираются вглубь образца. Однако, при высокоэнергетической
имплантации, МНЧ распределены в намного более толстом слое образца, и
при этом более крупные частицы залегают глубже мелких.
и столкновений с ядрами атомов, что приводит к появлению радиационных дефектов, которые, в свою очередь, могут стимулировать обратимые и необратимые изменения структуры материала. В случае высокодозовой имплантации регистрируются различные типы структурных радиационных нарушений, такие как протяженные и точечные дефекты, аморфизация и локальная кристаллизация, формирование новой фазы из атомов, составляющих структуру материала или внедренных ионов и т.д. [5]. Кроме того, ионная имплантация может сопровождаться эффективным распылением атомов поверхности облучаемого материала. Рисунок 3. Схема основных физических стадий формирования наночастиц из имплантируемой примеси в облучаемой матрице (в поперечном сечении) в зависимости от ионной дозы. Рассматривается случай эффективного распыления поверхности при ее облучении. Главной отличительной особенностью низкоэнергетической ионной имплантации от высокоэнергетической является различная глубина проникновения имплантированных ионов в облучаемую матрицу. Данное обстоятельство определяет функцию распределения ионно-синтезированных МНЧ по глубине образца. В случае имплантации при низких энергиях, более крупные частицы располагаются непосредственно вблизи поверхности, а мелкие простираются вглубь образца. Однако, при высокоэнергетической имплантации, МНЧ распределены в намного более толстом слое образца, и при этом более крупные частицы залегают глубже мелких. 13
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 11
- 12
- 13
- 14
- 15
- …
- следующая ›
- последняя »