ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
22
постоянным пространственным распределением с чередующимися
минимумами и максимумами. Если А
1
=А
2
, то максимум
результирующей амплитуды равен удвоенной амплитуде слагаемых
волн, а минимум равен нулю. Минимумы наблюдаются, когда
разность фаз ϕ равна π, а максимумы – когда ϕ = 2π.
Двухлучевая интерференция рентгеновского излучения может
наблюдаться при его отражении от верхней и нижней поверхности
тонкого слоя, нанесенного на массивную подложку. Другая
возможность состоит в интерференции падающего и отраженного от
поверхности рентгеновского излучения. В последнем случае
направления интерферирующих пучков не совпадают и поэтому
образуются стоячие волны. Рассмотрим каждый из этих случаев.
5.1. Отражение рентгеновского излучения системой слой-
подложка и многослойными структурами
Пусть монохроматический пучок рентгеновского излучения
падает из вакуума (или воздушной среды) под малым углом
скольжения на тонкий гомогенный слой, нанесенный на плоскую
идеально гладкую массивную подложку. Пусть материал подложки
оптически менее плотен, чем материал слоя. Тогда при углах,
близких к критическому углу полного внешнего отражения,
происходит процесс, схема которого представлена на рис. 6.
Найдем разность ∆ хода лучей I и II: ∆=(АВ+ВС) – DC;
Из рисунка следует, что АВ+ВС=(2d/ Sinϕ) и DC=(2d/ tgϕ)×Cosϕ
o
.
Необходимо учесть, что длина волны λ
о
после преломления меняет
свою величину, принимая в слое значение λ. Поэтому, чтобы
получить разность хода в длинах волн падающего излучения,
следует величину АВ+ВС помножить на отношение λ
о
/ λ = n , где n
- показатель преломления. При этом получаем:
Рис.6. Отражение рентгеновского луча от тонкого слоя на
подложке.
PDF created with FinePrint pdfFactory Pro trial version http://www.fineprint.com
постоянным пространственным распределением с чередующимися минимумами и максимумами. Если А1=А2, то максимум результирующей амплитуды равен удвоенной амплитуде слагаемых волн, а минимум равен нулю. Минимумы наблюдаются, когда разность фаз ϕ равна π, а максимумы – когда ϕ = 2π. Двухлучевая интерференция рентгеновского излучения может наблюдаться при его отражении от верхней и нижней поверхности тонкого слоя, нанесенного на массивную подложку. Другая возможность состоит в интерференции падающего и отраженного от поверхности рентгеновского излучения. В последнем случае направления интерферирующих пучков не совпадают и поэтому образуются стоячие волны. Рассмотрим каждый из этих случаев. 5.1. Отражение рентгеновского излучения системой слой- подложка и многослойными структурами Пусть монохроматический пучок рентгеновского излучения падает из вакуума (или воздушной среды) под малым углом скольжения на тонкий гомогенный слой, нанесенный на плоскую идеально гладкую массивную подложку. Пусть материал подложки оптически менее плотен, чем материал слоя. Тогда при углах, близких к критическому углу полного внешнего отражения, происходит процесс, схема которого представлена на рис. 6. Найдем разность ∆ хода лучей I и II: ∆=(АВ+ВС) – DC; Из рисунка следует, что АВ+ВС=(2d/ Sinϕ) и DC=(2d/ tgϕ)×Cosϕo. Необходимо учесть, что длина волны λо после преломления меняет свою величину, принимая в слое значение λ. Поэтому, чтобы получить разность хода в длинах волн падающего излучения, следует величину АВ+ВС помножить на отношение λо / λ = n , где n - показатель преломления. При этом получаем: Рис.6. Отражение рентгеновского луча от тонкого слоя на подложке. 22 PDF created with FinePrint pdfFactory Pro trial version http://www.fineprint.com
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 20
- 21
- 22
- 23
- 24
- …
- следующая ›
- последняя »