Преломление и отражение рентгеновского излучения. Павлинский Г.В. - 33 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

ИГУ | Иркутск

Составители: 

Рубрика: 

33
направлении от поверхностей слоя и подложки (область IV),
рассмотрена в предыдущем разделе
Теоретические зависимости для интенсивности стоячих волн, а
также отраженного и преломленного излучения, получаются в этом
случае при использовании двух матричных уравнений типа (49),
записанных для внешней поверхности и для поверхности раздела слоя
и подложки.
19
12. Kiessig H. Ann.d.Phys., 1931, v.10, p.769.
13.Roseler A. Infrared Spectroscopic Ellipsometry// Academie-Verlag,
Berlin, 1990.
14. De Boer D.K.G. and van den Hoogenhof W.W. Adv. X-Ray Anal.,
1991, v.34, p.35.
15. De Boer D.K.G., Leenaers A.J.G. and van den Hoogenhof W.W.// X-
Ray Spectrometry, 1995, v.24, p.91.
16. Abeles F.// Ann. Phys. (Paris), 1950,5, p.596, p.706.
17. Krol A., Sher C.J. and Kao Y.H.// Phys. Rev., 1988, B38, p.8579.
18. Bedzyk M.J., Bommarito G.M., and Schildkraut J.S.// Phys. Rev. Lett.,
1989, v.62, p.1376.
19
PDF created with FinePrint pdfFactory Pro trial version http://www.fineprint.com
             направлении от поверхностей слоя и подложки (область IV),
             рассмотрена в предыдущем разделе
                  Теоретические зависимости для интенсивности стоячих волн, а
             также отраженного и преломленного излучения, получаются в этом
             случае при использовании двух матричных уравнений типа (49),
             записанных для внешней поверхности и для поверхности раздела слоя
             и подложки.


             19
             12. Kiessig H. Ann.d.Phys., 1931, v.10, p.769.
             13.Roseler A. Infrared Spectroscopic Ellipsometry// Academie-Verlag,
                  Berlin, 1990.
             14. De Boer D.K.G. and van den Hoogenhof W.W. Adv. X-Ray Anal.,
                  1991, v.34, p.35.
             15. De Boer D.K.G., Leenaers A.J.G. and van den Hoogenhof W.W.// X-
                  Ray Spectrometry, 1995, v.24, p.91.
             16. Abeles F.// Ann. Phys. (Paris), 1950,5, p.596, p.706.
             17. Krol A., Sher C.J. and Kao Y.H.// Phys. Rev., 1988, B38, p.8579.
             18. Bedzyk M.J., Bommarito G.M., and Schildkraut J.S.// Phys. Rev. Lett.,
                  1989, v.62, p.1376.
             19




                                                                                     33

PDF created with FinePrint pdfFactory Pro trial version http://www.fineprint.com

Страницы