ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
18
4. РАСПРЕДЕЛЕНИЕ ПОЛЯ И ПРОБИВНОЕ НАПРЯЖЕНИЕ
ЦИЛИНДРИЧЕСКИХ КОЛЛЕКТОРНЫХ Р
+
-N-ПЕРЕХОДОВ В
КРЕМНИЕВЫХ ПЛАНАРНЫХ N-P-N-ТРАНЗИСТОРАХ С ГАУССОВЫМ
ЗАКОНОМ РАСПРЕДЕЛЕНИЯ АКЦЕПТОРОВ В N-КОЛЛЕКТОРЕ
В процессе изготовления кремниевых планарных транзисторов база р-
типа создается путем диффузии бора в n-коллектор через окно прямоугольной
формы со скругленными краями в окисной маске SiO
2
(рис. 1).
Диффузия бора происходит как вдоль оси ОХ, так и под край окисной
маски вдоль оси О Y. В результате наряду с прямоугольной плоской частью
коллекторного p-n-перехода образуются цилиндрические части p-n-перехода с
более низким пробивным напряжением U
проб ц
, чем напряжение пробоя плоской
части U
проб пл
.
Для нахождения распределения поля в боковых цилиндрических частях с
радиусом закругления металлургического перехода r
0
(диффузия бора проходит
на одинаковое расстояние во всех направлениях ) необходимо решить
уравнение Пуассона в цилиндрических участках для потенциала ψ :
0
2
2
2
2
2
11
εε
ρψ
ϕ
ψψψ
−=
∂
∂
+
∂
∂
+
∂
∂
∂
∂
zr
r
r
rr
, (1)
где
−−=−−=
−
dn
tD
r
asdna
NeNqNrNq
B
2
2
])([ρ - (2)
плотность объемного заряда распределения акцепторов, которая
подчиняется закону распределения Гаусса
2
2
)(
−
=
tD
r
asa
B
eNrN . (3)
tD
B
2 - диффузионная длина бора, причем на границе
металлургического p-n-перехода r=r
0
выполняется условие
dn
tD
r
as
NeN
B
=
−
2
0
2
, (4)
где N
as
– поверхностная концентрация акцепторов.
Из уравнения (4) находим диффузионную длину
dnas
B
NN
r
tD
ln
2
0
=
. (5)
При типичных значениях отношения N
as
/N
dn
=10
19
/10
15
=10
4
диффузионная
длина равна
0
35,02 rtD
B
= .
18
4. Р А С П Р Е ДЕ Л Е Н И Е П О Л Я И П Р О Б И В Н О Е Н А П Р Я Ж Е Н И Е
+
ЦИ Л И Н ДР И Ч Е С КИ Х КО Л Л Е КТО Р Н Ы Х Р -N-П Е Р Е Х О ДО В В
КР Е М Н И Е ВЫ Х П Л А Н А Р Н Ы Х N-P-N-ТР А Н ЗИ С ТО Р А Х С Г А У С С О ВЫ М
ЗА КО Н О М Р А С П Р Е ДЕ Л Е Н И Я А КЦ Е П ТО Р О В В N-КО Л Л Е КТО Р Е
В процессе изготовления крем ниевы х планарны х транзисторов база р-
типа созд ается путем д иф ф узии бора в n-коллектор через окно прям оугольной
ф орм ы со скругленны м икраям и вокисной маскеSiO2 (рис. 1).
Д иф ф узия бора происход иткак вд оль оси О Х , так и под край окисной
м аски вд оль оси О Y. В результате наряд у с прям оугольной плоской частью
коллекторного p-n-переход а образую тся цилинд рические части p-n-переход а с
болеенизким пробивны м напряж ением Uпроб ц, чем напряж ение пробоя плоской
части Uпроб пл.
Д ля нахож д ения распред еления поля в боковы х цилинд рических частях с
рад иусом закругления м еталлургическог о переход а r0 (д иф ф узия бора проход ит
на од инаковое расстояние во всех направлениях) необход им о реш ить
уравнениеПуассона вцилинд рических участках д ля потенциала ψ:
1 ∂ψ ∂ψ 1 ∂ ψ ∂ ψ ρ
2 2
r + 2 + = − , (1)
r ∂r ∂r r ∂ϕ 2 ∂z 2 εε 0
r
2
−
гд е ρ = − q[ N a (r ) − N dn ] = − q N as e
2 D Bt
− N dn - (2)
плотность объем ного заряд а распред еления акцепторов, которая
под чиняется законураспред еления Гаусса
2
r
−
2 DBt
N a (r ) = N as e . (3)
2 DBt - д иф ф узионная д лина бора, причем на границе
м еталлург ическог о p-n-переход а r=r0 вы полняется условие
2
r0
−
e B
2 D t
N as = N dn , (4)
гд еNas – поверхностная концентрация акцепторов.
И з уравнения (4) наход им д иф ф узионную д лину
r0
2 DBt = . (5)
ln N as N dn
При типичны х значениях отнош ения Nas/Ndn=1019/1015 =104 д иф ф узионная
д лина равна 2 D B t = 0,35r0 .
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 16
- 17
- 18
- 19
- 20
- …
- следующая ›
- последняя »
