Методы испытаний электрической изоляции. Петров А.В. - 37 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

ТПУ | Томск

Составители: 

Рубрика: 

ЭИКТ ЭЛТИ
37
Используя расчеты, приведенные для этой задачи в примере раз-
дела 2.2., найдем абсолютную
Δ tg
δ
и относительную Δ tg
δ
/ tg
δ
по-
грешности измерения тангенса угла диэлектрических потерь, обуслов-
ленных влиянием контактного слоя
h
2
.
Δ tg
δ
= tg
δ
изм
- tg
δ
1
= 9,8 ⋅ 10
-4
– 5 ⋅ 10
-4
= 4,8 ⋅ 10
-4
96,0
105
108,4
4
4
1
=
⋅
⋅
=
Δ
−
−
δ
δ
tg
tg
или %96%100
1
=⋅
Δ
δ
δ
tg
tg
Δ
ε
=
ε
изм
-
ε
1
= 2,49 – 2,5 = - 0,01
%4,0%100
5,2
01,0
1
=⋅=
Δ
ε
ε
Таким образом, наличие подклеивающего слоя увеличивает инст-
рументальную погрешность, в данном случае по тангенсу угла диэлек-
трических потерь почти на 100%, а по диэлектрической проницаемости
– на 0,4%.
К увеличению погрешности приводит и наличие неплотного кон-
такта между диэлектриком и прижимными электродами. В рассмотрен-
ном выше примере заменим подклеивающий слой воздушным зазором,
обусловленным неплотным прилеганием электродов к поверхности ди-
электрика. Пусть
d
2
=0,002 см,
ε
2
= 1, tg
δ
2
= 1 ⋅ 10
-5
. По аналогии с про-
веденными ранее расчетами получим:
4
25
5524
1076,4
102,011045,2
5,21041011102,0105
−
−−
−−−−
⋅=
⋅⋅+⋅⋅
⋅⋅⋅⋅+⋅⋅⋅⋅
=
изм
tg
δ
;
Рисунок 2.4 Конструкция образца с наклеенными фольговыми электродами(а),его экви-
валентная последовательная схема замещения (б) и векторная диаграмма (в).
ε
ε
ε
2
1
2
U2 U1 U2
R2 R1 R2
C2 C1 C2
прокл.слой диэлектрик прокл.слой
2U
U
δ
δ
δ
U
2
2
1
1
изм.
U
а
б
в
h1
h2
h2
J

Страницы