ВУЗ:
Составители:
52 
3.  Вакансии  действуют  как  доноры,  если  число  неспаренных 
электронов  вблизи  вакансии  меньше  половины  числа  валентных 
электронов, имеющихся в аналогичном месте совершенного кристалла, 
и как акцепторы - в противном случае. Например, в кристалле  GaAs 
насыщенная  связь  между  Ga  и  As  создается  с  помощью  восьми 
валентных  электронов.  В  результате  вакансия  галлия,  окруженная 
пятью неспаренными электронами атомов мышьяка, для связывания с 
ними  может  принимать  электроны,  заряжаясь  отрицательно  и 
выполняя  функции  акцептора.  Наоборот,  вакансия  мышьяка, 
окруженная  тремя  неспаренными  электронами  атомов  галлия, 
является донором. 
Как  уже  отмечалось,  часто  зависимость  физических  свойств 
кристалла от дефектов оказывается настолько сильной, что в итоге эти 
свойства определяются не столько исходной структурой твердого тела, 
сколько концентрацией и типом дефектов. В частности, это относится к 
таким структурно-чувствительным свойствам, как электропроводность, 
люминесценция и термоэлектронная эмиссия. 
3.2 Квазихимический метод описания дефектов 
В  реальных  условиях  количество  точечных  дефектов 
(собственных  и  примесных)  в  полупроводниках  относительно 
невелико, т. е. их концентрация много меньше числа основных атомов 
в  единице  объема  (от  10
12 
-  10
13 
см
-3
  для  очищенных  материалов  с 
естественным  уровнем  остаточных  примесей  до  10
19
  -  10
20 
см
-3
  для 
сильно  легированных  полупроводников).  На  этом  основании 
реальные  кристаллы  полупроводников  можно  рассматривать  как 
твердые  растворы,  близкие  по  свойствам  к  предельно  разбавленным 
или  идеальным  растворам.  Следовательно,  для  анализа  поведения 
дефектов в полупроводниках можно использовать термодинамические 
соотношения из теории растворов с тем, чтобы процессы, связанные с 
образованием  и  исчезновением  дефектов,  описывать  при  помощи 
уравнений,  аналогичных  по  форме  с  уравнениями  для  обычных 
химических  реакций.  Подход  к  описанию  дефектообразования  в 
кристаллах,  базирующийся  на  основных  положениях  химической 
термодинамики, называется квазихимическим методом. 
Система обозначений: 
М − элементарный полупроводник (например, Ge и Si); 
MX − бинарный полупроводник типа A
II
B
VI
 или A
III
B
V
 (CdS, GaAs и др.); 
М
I
 и X
I
 − междоузельные атомы М и X (например, Ga
1
 и As 
1
);  
V
M
 и V
X
 − вакансии в подрешетках М и X(например,
Ga
V
, 
As
V
); 
D и А − донорный и акцепторный атомы (например, Р и В в Si);  
I
M
 и 
I
X
 − ионизованные междоузельные атомы М и X (
I
Ga
, 
I
As
); 
Страницы
- « первая
 - ‹ предыдущая
 - …
 - 50
 - 51
 - 52
 - 53
 - 54
 - …
 - следующая ›
 - последняя »
 
