ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
t, °C
20 30 40 50 60 70 80 90 100 110 120
Металл R,
ом
Полу-
провод-
ник
4. По результатам измерений построить графики изменения электрического сопротивления кристаллических материа-
лов от температуры.
Содержание отчёта
1. Название и цель работы.
2. Тип приборов и характеристики используемых кристаллических материалов.
3. Метод измерения сопротивления, схема установки.
4. Таблица экспериментальных данных и график зависимости R = f(t).
Контрольные вопросы
1. Образование энергетических зон. Валентная, запрещённая и зона проводимости.
2. Зонная структура металлов, диэлектриков и полупроводников.
3. Примесные уровни в полупроводниках. Доноры, акцепторы, собственные полупроводники.
4. Концентрация носителей зарядов в собственном полупроводнике. Уровень Ферми.
5. Основные и неосновные, равновесные и неравновесные носители.
6. Закон действующих масс.
Список литературы
1. Савельев, И.В. Курс общей физики / И.В. Савельев. – М., 1997.
2. Трофимова, Т.И. Курс физики / Т.И. Трофимова. – М. : Высшая школа, 1994.
Лабораторная работа 4
ИЗУЧЕНИЕ ПОРОШКОВ
Цель работы: ознакомиться с методами статистического анализа случайных величин и построить гранулометрическую
кривую порошка.
Приборы и принадлежности: микроскопы на просвет и на отражение, объект-микрометр, металлические порошки.
Методические указания
При изучении сложных процессов, в которых участвует большое количество структурных единиц или действующих
факторов, параметры, описывающие состояние системы, являются случайными величинами. В таком случае для количест-
венной и качественной оценки используют вероятностно-статистические методы.
Случайная величина X принимает в зависимости от случая те или иные значения x
i
. Частота встречи отдельных значе-
ний определяется вероятностью p
i
(рис. 4.1).
В других случаях распределение вероятностей задаётся указанием для каждого отрезка значений случайной величины a
= [а, b] вероятности р
х
(а, b) события а ≤ х < b. Если случайная величина меняется не дискретно, а непрерывно, вероятность
попадания её значения в диапазон [а, b] описывается функцией
∫
=
b
a
xx
xdxpbaP )()(),( , где p
x
(x) – плотность вероятности.
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 10
- 11
- 12
- 13
- 14
- …
- следующая ›
- последняя »
