Дефекты металла. Расщупкин В.П - 25 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

СибАДИ | Омск

Составители: 

Рубрика: 

23
гают на противоположных поверхностях изделия, что позволяет применять
этот метод только при наличии двустороннего доступа к изделию.
При зеркально-теневом методе дефект обнаруживают по уменьше-
нию интенсивности (амплитуды), отраженной от противоположной по-
верхности изделия ультразвуковой волны. Противоположную поверхность,
зеркально отражающую ультразвук, называют донной поверхностью, а от-
раженный от нее импульс – донным импульсом.
При эхо-методе признаком обнаружения дефекта является прием ис-
кателем эхо-импульса, отраженного от самого дефекта.
Если о наличии дефекта судят по появлению эхо-импульса от дефек-
та и по уменьшению донного импульса, то это значит, что контроль ведут
одновременно по двум методам: эхо-методу и по зеркально-теневому; та-
кое сочетание методов при контроле сварных соединений для краткости
называют эхо-теневым методом.
При любом методе контроля возможно использование двух искате-
лей, один из которых выполняет функции излучения, а другой – приема.
Такая схема включения искателей называется раздельной. В то же время
при импульсном излучении для зеркально-теневого и эхо-методов возмож-
но применение одного искателя, включенного по совмещенной схеме, при
котором один и тот же искатель выполняет функции излучения зондирую-
щих импульсов и приема эхо-сигналов.
3.3. Основные измеряемые характеристики дефектов
при ультразвуковом контроле
Признаком обнаружения дефекта при ультразвуковом контроле явля-
ется прием эхо-сигнала от отражателя, расположенного в металле шва, ам-
плитуда которого превышает заданный уровень. Для получения информа-
ции о выявленных дефектах используют следующие основные измеряемые
характеристики дефекта: максимальную амплитуду эхо-сигнала от дефекта,
координаты расположения дефекта в шве, условные размеры дефекта, ко-
личество дефектов на определенной длине шва.
3.3.1. Амплитуда эхо-сигнала от дефекта
Амплитуда эхо-сигнала – наиболее простая измеряемая характери-
стика, которая при прочих равных условиях зависит от размеров, ориента-
ции и конфигурации отражающей поверхности, глубины ее расположения
и шероховатости.

Страницы