Теория измерений. Основы теории точности средств измерений. Романов В.Н. - 116 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

СЗТУ | Санкт-Петербург

Составители: 

Рубрика: 

4.3. Статистические методы оценки надежности СИ
Повышение точности и помехоустойчивости СИ тесно связано с
надежностью работы измерительной аппаратуры. В этом разделе речь
пойдет о метрологической надежности, т.е. о выходе параметров за
допустимые пределы с заданной вероятностью
(достоверностью).Наибольший практический интерес имеют
следующие задачи:
- оценка вероятности безотказной работы СИ либо
вероятности отказа с учетом износа;
-
оценка вероятности брака контроля при поверке СИ;
- определение «склонности» СИ к отказам с учетом ряда
факторов (например, условий эксплуатации);
-
оценка вероятности отказов СИ за счет экстремальных
факторов.
Для решения перечисленных задач применимы несколько
статистических распределений (см. Приложение 4). Для оценки
вероятности безотказной работы наиболее подходят
распределение Вейбулла и отрицательное экспоненциальное
распределение. При оценке брака контроля также могут быть
использованы эти распределения. Склонность к отказам
оценивается по отрицательному биномиальному распределению.
Наконец, оценка
отказов СИ за счет экстремальных факторов
проводится с использованием распределения Пуассона.
Оценка вероятности безотказной работы аппаратуры.
Прогнозирование вероятности безотказной работы СИ
проводится при нескольких предположениях. Отказы СИ и
аппаратуры контроля могут происходить по следующим
причинам: технологический брак, условия эксплуатации,
старение и износ, экстремальные факторы (грубые ошибки,
случайный сбой в работе по внешним причинам, аварийные
ситуации и т.д.). Вероятность отказов отдельных элементов СИ
принимается одинаковой; аналогичное
допущение имеет место и
для элементов контрольно-измерительной аппаратуры.
Определение вероятности отказов СИ проводится с
использованием двух распределений: отрицательного
экспоненциального и распределения Вейбулла. Последнее
распределение имеет более общий характер и позволяет учесть
процессы износа элементов СИ. Вероятность отказов по

Страницы