Сборка и монтаж интегральных микросхем. Романова М.П. - 23 стр.

UptoLike

Составители:

Рубрика:

В трех углах носителя имеются отверстия размером 1,5х 1,5 мм для его уста-

новки в тару и крепления на кассету сварочной установки.

Ширина балочного вывода носителя во внутренней зоне А (рис. 2.6) со-

ставляет ~ 200 мкм.

Для измерения параметров ИМС после присоединения объемных выводов к кон-

тактным площадкам кристаллов и разделения полупроводниковой пластины на от-

дельные кристаллы разработана специальная оснастка: измерительный носитель, яв-

ляющийся составным элементом измерительной тары (рис. 2.7). Структура проводни-

ков измерительного полиимидного носителя следующая:

•

термически напыленный в вакууме слой Сг – Сu толщиной

0,0015– 0,0017 мм;

•

слой гальванически наращенной меди толщиной 0,01 – 0,015 мм;

• покрытие из золота или Sn - Bi толщиной 0,002 – 0,003 мм.

Таким образом, минимальное значение суммарной толщины проводящего по-

крытия 0,016 мм, а в зоне контактирования с объемными выводами кристалла 0,1 мм.

Двустороннее расположение проводников на носителе связано с необходимо-

стью контактирования носителя с объемными выводами кристалла с одной стороны

и зондами контролирующего устройства с другой стороны. Электрический контакт

между проводниками на обеих сторонах обеспечивается при помощи металлизи-

рованных переходных отверстий диаметром ~ 0,13 мм. В измерительных носителях

осуществляют измерение параметров и электротермотренировку ИМС с объемными

выводами.