Системное программное обеспечение. Особенности программирования 32-разрядных процессоров. Рощин А.В. - 143 стр.

     − EXTEST – предназначенная для проверки внешних соединений
        тестируемого устройства,
     − SAMPLE – позволяющая зафиксировать состояния всех внешних
        сигналов или загрузить данные в ячейки регистра BSR,
     − IDCODE – подключает к интерфейсу регистр DID для считывания
        содержимого регистра идентификации,
     − BYPASS – предназначенная для подключения однобитного
        обходного регистра BPR и блокировки работы тестируемого
        устройства в режиме контроля,
     − RUNBIST – запускающая встроенный тест процессора BIST (Build
        In Self Test, отдельный тест процессора, не увязываемый жестко с
        интерфейсом JTAG).
     Контроллер TAP переводится в исходное состояние при включении
питания или при удержании высокого уровня сигнала TMS не менее пяти
тактов TCK.
     Как уже отмечалось, при включенном тестовом режиме контроллер
может логически отсоединять входы и выходы устройства от внешних
выводов, задавать входные воздействия и считывать результаты с выходов,
что и необходимо для тестирования как комбинационных, так и
последовательностных схем. Причем делается все это с помощью только
четырех названных выше сигналов.
     Для интерфейса JТAG существует специальный язык описания
устройств BSDL (Boundary Scan Description Language). Состав и порядок
следования информационных и управляющих ячеек в регистре BSR
специфичен для каждого устройства (для его определения и используется
код идентификации устройства из регистра DID).
     В процессорах, начиная с Pentium, имеется также дополнительный
сигнал прерывания R/S#, по которому процессор переходит в зондовый



                                    143