ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
134
тела.
Наряду с внешним фотоэффектом в полупроводниках обнаружен
внутренний фотоэффект, при котором электроны, получившие энер-
гию фотона. не покидают тело, но отрываются от своей структурной
частицы. Очевидно, что в этом случае энергия квантов может быть
меньше работы выхода
A
. Но, вместе с тем, достаточной, чтобы воз-
будить электроны из валентной зоны полупроводника в зону прово-
димости. На рис. 61а изображена принципиальная схема полупровод-
никового фотоэлемента. При отсутствии освещения p-n-переход нахо-
дится в равновесном состоянии, возникает контактная разность потенциа-
лов, направленная от полупроводника n-типа к полупроводнику p-типа. Ме-
таллическая подложка М берется очень тонкой, чтобы световые лучи могли
проникнуть до полупроводника p-типа. При освещении энергия кванта пе-
редается электронам валентной зоны полупроводника, котоpые, поглащая
энергию, возбуждаются, переходя в зону проводимости (рис. 61б). Эти элек-
троны из зоны проводимости пролупроводника p-типа могут перейти в ме-
таллическую пластинку. В результате динамическое равновесие, возникшее
на p-n-переходе, нарушается. Электроны из полупроводника n-типа снова
получают возможность переходить в полупроводник p-типа, так как там в
валентной зоне возникли свободные места («дырки»). Разность потенциа-
лов на p-n-переходе увеличивается благодаря световому воздействию, и если
цепь фотоэлемента замкнута, то в ней возникает фототок, соответствующая
ЭДС – называется фотоэлектродвижущей силой (фото-ЭДС). Лучшие фото-
элементы (кремниевые) могут иметь высокий КПД преобразования лучис-
той энергии в электрическую – 22 – 23%. Помимо кремниевых, используют-
ся германиевые,меднозакисные, селеновые и др. полупроводниковые фото-
элементы. Они более чувствительны, чем фотоэлементы с внешним фото-
эффектом (вакуумные фотоэлементы). Основным недостатком полупровод-
никовых фотоэлементов является их большая инертность, т.е. запаздывание
появления фототока от начала облучения p-n-перехода, что связано с времен-
ным процессом диффузии электронов и «дырок», возникших на p-n-переходе
при облучении его светом. P-n-переход является основной частью фотодиодов
(рис.62).
Как видно из принципиальной схемы включения фотодиода, он вклю-
чается в цепь в запорном направлении последовательно с внешним источ-
ником тока (рис.62а).
При отсутствии светового потока через фотодиод протекает незначи-
тельный ток обратного, запорного направления – темновой ток. При осве-
Рис. 60.
а) b) c)
PDF created with pdfFactory Pro trial version www.pdffactory.com
тела.
Наряду с внешним фотоэффектом в полупроводниках обнаружен
внутренний фотоэффект, при котором электроны, получившие энер-
гию фотона. не покидают тело, но отрываются от своей структурной
частицы. Очевидно, что в этом случае энергия квантов может быть
меньше работы выхода A . Но, вместе с тем, достаточной, чтобы воз-
будить электроны из валентной зоны полупроводника в зону прово-
димости. На рис. 61а изображена принципиальная схема полупровод-
никового фотоэлемента. При отсутствии освещения p-n-переход нахо-
дится в равновесном состоянии, возникает контактная разность потенциа-
лов, а) b)
направленная от полупроводника c) p-типа. Ме-
n-типа к полупроводнику
таллическая подложка М берется очень тонкой, чтобы световые лучи могли
Рис. 60.
проникнуть до полупроводника p-типа. При освещении энергия кванта пе-
редается электронам валентной зоны полупроводника, котоpые, поглащая
энергию, возбуждаются, переходя в зону проводимости (рис. 61б). Эти элек-
троны из зоны проводимости пролупроводника p-типа могут перейти в ме-
таллическую пластинку. В результате динамическое равновесие, возникшее
на p-n-переходе, нарушается. Электроны из полупроводника n-типа снова
получают возможность переходить в полупроводник p-типа, так как там в
валентной зоне возникли свободные места («дырки»). Разность потенциа-
лов на p-n-переходе увеличивается благодаря световому воздействию, и если
цепь фотоэлемента замкнута, то в ней возникает фототок, соответствующая
ЭДС – называется фотоэлектродвижущей силой (фото-ЭДС). Лучшие фото-
элементы (кремниевые) могут иметь высокий КПД преобразования лучис-
той энергии в электрическую – 22 – 23%. Помимо кремниевых, используют-
ся германиевые,меднозакисные, селеновые и др. полупроводниковые фото-
элементы. Они более чувствительны, чем фотоэлементы с внешним фото-
эффектом (вакуумные фотоэлементы). Основным недостатком полупровод-
никовых фотоэлементов является их большая инертность, т.е. запаздывание
появления фототока от начала облучения p-n-перехода, что связано с времен-
ным процессом диффузии электронов и «дырок», возникших на p-n-переходе
при облучении его светом. P-n-переход является основной частью фотодиодов
(рис.62).
Как видно из принципиальной схемы включения фотодиода, он вклю-
чается в цепь в запорном направлении последовательно с внешним источ-
ником тока (рис.62а).
При отсутствии светового потока через фотодиод протекает незначи-
тельный ток обратного, запорного направления – темновой ток. При осве-
134
PDF created with pdfFactory Pro trial version www.pdffactory.com
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 132
- 133
- 134
- 135
- 136
- …
- следующая ›
- последняя »
