Контроль параметров микроструктуры материалов методами дифракционного анализа - 15 стр.

UptoLike

одновременно регистрировать направление дифрагированных на
исследуемом образце рентгеновских лучей и положение образца в
момент возникновения дифракции. В гониометре Вайсенберга, а также
в прецессионных камерах синхронно с качающимся кристаллом про-
исходит перемещение пленки в рентгеногониометре Вайссенберга
(Рис.9). Все дифракционные конусы, кроме одного, закрываются
цилиндрической ширмой, а пятна оставшегося дифракционного
конуса (или, что то же, слоевой линии) «разворачиваются» на всю
площадь фотоплёнки путём её возвратно-поступательного осевого
перемещения синхронно с вращением кристалла. Это позволяет
определить, при какой ориентации кристалла возникло каждое пятно
вайссенбергаграммы.
Существуют и другие методы съёмки, в которых применяется
одновременное синхронное движение образца и фотоплёнки. Важней-
шими из них являются метод фотографирования обратной решётки и
прецессионный метод Бюргера. Во всех этих методах использована
фотографическая регистрация дифракционной картины. В современ-
ных методах применяются также дифрактометры; в них для регистра-
ции дифрагированных пучков используются сцинтилляционные или
пропорциональные счетчики. С помощью этих методов возможно
автоматическое получение данных, что весьма существенно, так как
сложные структуры могут давать большое число отражений (порядка
10000).
15