Контроль параметров микроструктуры материалов методами дифракционного анализа - 16 стр.

UptoLike

Составители:

Рубрика:

Риc.9. Принципиальная схема рентгенгониометра Вайссенберга:

1 – неподвижная ширма, пропускающая только один

дифракционный конус; 2 – кристалл, поворачивающийся вокруг

оси Х – Х; 3 – цилиндрическая фотоплёнка, двигающаяся

поступательно вдоль оси Х – Х синхронно с вращением

кристалла 2; 4 – дифракционный конус, пропущенный ширмой;

5 – первичный пучок

Метод порошка. В методе порошка (см. Рис.10.) пучок монохро-

матического излучения падает на заключенный в тонкостенную

капиллярную трубку образец в виде мелкого порошка или

мелкозернистого поликристаллического материала. В таком образце

присутствуют почти все ориентации кристаллитов. Удобство этого

метода состоит в том, что нет необходимости использовать

монокристаллические образцы. Падающие лучи отражаются от тех

кристаллитов, которые по отношению к направлению падающего

пучка оказываются ориентированными так, что соответствующий угол

удовлетворяет условию Брэгга.

Рис.10. Камера, используемая для рентгеновской дифракции в

методе порошка. Используется образец в виде

поликристаллического порошка