Контроль параметров микроструктуры материалов методами дифракционного анализа - 18 стр.

UptoLike

ikr
k
e=Ψ
. (7)
Потенциальную энергию (5) можно разложить в ряд Фурье
igr
g
eV=V(r)
. (8)
Таким образом, выражение для матричного элемента (6) можно
переписать в виде
( )
=rdeV=rdeeVe=M
g
rk'g+ki
g
ikrigr
g
ikr
kk'
33
случаяхдругихв
=k'g+kесли,V=
g
0
0
. (9)
Если вектор k фиксирован, т. е. электроны в падающем пучке
монохроматичны и имеют точно определенное направление движения,
то дифрагированные пучки можно наблюдать только в направлениях,
соответствующих волновым векторам
g+k=k'
, (10)
где g — один из векторов обратной решетки кристалла.
В данном случае надо еще потребовать, чтобы энергии
дифрагированного и падающего пучков были одинаковы, т. е. чтобы
соответствующие волновые векторы имели одинаковые длины. Это
накладывает ограничение на угол рассеяния. Обозначим через
θ2
угол между векторами k и k', тогда
| | | |
θsin2 k=g
(11)
Чтобы удовлетворить этим геометрическим условиям в
обратном пространстве, построим сферу Эвальда (Рис.12,б), радиус
ОР которой равен волновому вектору падающего луча. Если начало
координат в обратной решетке поместить в точку Р, то вектор g
должен перевести нас в точку Q, причем OQ совпадает с волновым
вектором k'. Следовательно, дифракция возникает при таких
ориентациях кристалла относительно падающего луча, при которых
точка обратной решетки попадает на сферу.
18