Контроль параметров микроструктуры материалов методами дифракционного анализа - 14 стр.

UptoLike

Составители:

Рубрика:

Рис.8. Схема рентгеновской съёмки по методу вращения: 1 –

первичный пучок; 2 – образец (вращается по стрелке);

3 – фотоплёнка цилиндрической формы; б – типичная

рентгенограмма вращения

Метод вращения даёт экспериментатору более богатую инфор-

мацию, чем метод порошка. По расстояниям между слоевыми лини-

ями можно рассчитать период решётки в направлении оси вращения

кристалла. В рассматриваемом методе упрощается индицирование

пятен рентгенограммы. Так если кристалл вращается вокруг оси с

решётки, то все пятна на линии, проходящей через след первичного

луча, имеют индексы (h,k,0), на соседних с ней слоевых линиях –

соответственно (h,k,1) и (h,k,1) и так далее. Однако и метод вращения

не даёт всей возможной информации, так никогда неизвестно, при

каком угле поворота кристалла вокруг оси вращения образовалось то

или иное дифракционное пятно.

На практике используется несколько разновидностей метода

вращения кристалла. Так, в методе колебаний вместо того, чтобы

вращать кристалл на 360°, его заставляют качаться в ограниченном

интервале углов. Ограниченность этого интервала понижает

вероятность наложения отражений различных порядков.

Наиболее богатую информацию дают методы рентгеногонио-

метра. Рентгеновский гониометр, прибор, с помощью которого можно