Контроль параметров микроструктуры материалов методами дифракционного анализа - 12 стр.

UptoLike

Рис.5. Камера, используемая в методе вращения кристалла.
Монокристаллический образец укреплен на
вращающейся оси
Рис.6. а) Спектральное
распределение интенсивности излучения
рентгеновской трубки с молибденовым антикатодом при
напряжении 30 кВ. б) Распределение по энергиям
12