Контроль параметров микроструктуры материалов методами дифракционного анализа - 11 стр.

UptoLike

Составители:

Рубрика:

оказаться результатом наложения отражений различных порядков. Это

затрудняет определение интенсивности данного отражения, что, в

свою очередь, затрудняет определение базиса.

Метод вращения кристалла. В методе вращения монокристалл

вращается вокруг какой-либо фиксированной оси в монохроматичес-

ком пучке рентгеновских лучей (или нейтронов). При изменении угла

различные атомные плоскости занимают такие положения, при

которых может происходить отражение (отражающие положения). На

рисунке 5 показана простая камера, используемая в методе вращения

кристалла. Пленка закреплена на внутренней поверхности цилиндри-

ческого держателя, который коаксиален оси вращения монокристал-

лического образца. Обычно размеры образца, необходимые в этом

методе, не превышают 1 мм. Монохроматизация падающего рентге-

новского пучка обеспечивается фильтрами или с помощью монокрис-

таллического монохроматора, расположенного перед камерой. Пада-

ющий пучок дифрагирует на определенной атомной плоскости крис-

талла всякий раз, когда, при вращении, значение угла

удовлетво-

ряет условию Брэгга. Все пучки, отраженные от плоскостей, парал-

лельных вертикальной оси вращения, будут лежать в горизонтальной

плоскости. Плоскости с другими ориентациями будут давать отраже-

ния, расположенные выше и ниже горизонтальной плоскости.