Контроль параметров микроструктуры материалов методами дифракционного анализа - 9 стр.

UptoLike

пучок рентгеновских лучей (или нейтронов) направляется на
неподвижно закрепленный монокристаллический образец. Этот пучок
содержит рентгеновские лучи с набором длин волн в широком
интервале значений. В кристалле происходит «отбор», и дифрагирует
только излучение с дискретным набором длин волн X, таких, что для
этих длин волн межплоскостные расстояния d и углы падения
θ
удовлетворяют закону Брэгга. Метод Лауэ чрезвычайно удобен для
быстрого определения симметрии кристалла и его ориентации. Он
используется также для определения размеров искажений и дефектов,
возникающих в кристалле при механической и термической
обработке.
На рисунке 3 показана схема камеры Лауэ. Источник рентгенов-
ских лучей испускает излучение, имеющее сплошной спектр, с
длинами волн, например, от 0,2 А до 2 А. Система диафрагм позволяет
получить хорошо коллимированный пучок. Размеры монокристал-
лического образца могут не превышать 1 мм. Плоская рентгеновская
пленка располагается так, что на нее попадают либо проходящие
(прямая съемка, положение Л на рисунке 3), либо отраженные
(обратная съемка, положение В на рисунке 3) дифрагированные пучки.
Дифракционная картина состоит из серии пятен (рефлексов); на
рисунке 4 показана такая дифракционная картина для кремния.
Рис.3. Схема камеры Лауэ
Для получения лауэграммы монокристаллического образца
используется рентгеновское излучение, имеющее сплошной спектр.
Кристаллодержатель (регулируемый гониометр) позволяет менять
ориентацию монокристалла, что часто бывает необходимо и в других
9