Контроль параметров микроструктуры материалов методами дифракционного анализа - 8 стр.

UptoLike

нейтрона. В более употребительных единицах
( )
2/1
ε
0,28
λ
]кэВ[
=
. (2)
Из рис.2 видно, что
λ
= 1 А при
0,08 ε
эВ. Благодаря
наличию у нейтронов магнитного момента они взаимодействуют с
«магнитными» электронами твердого тела; поэтому использование
нейтронов представляет большую ценность для структурного анализа
магнитных кристаллов. В немагнитных материалах нейтроны
взаимодействуют с ядрами атомов, образующих решетку.
Электроны. Длина волны Де-Бройля для электрона
λ
связана с
его энергией уравнением
λ2m
ε
2
h
=
, где
27
100,911
=m
г—масса
электрона. В более употребительных единицах
( )
2/1
ε
12
λ
]кэВ[
=
. (3)
Поскольку электроны представляют собой заряженные частицы,
они сильно взаимодействуют с веществом; глубина их проникновения
в кристалл сравнительно невелика. Поэтому структурное
исследование методом дифракции электронов наиболее существенно
при изучении поверхностей, пленок, очень тонких кристаллов и газов.
По закону Брэгга
, (4)
для отражения необходима определенная связь между углом падения
θ
и длиной волны излучения
λ
: рентгеновские лучи с длиной
волны
λ
, падающие на трехмерный кристалл под произвольным
углом, вообще говоря, отражаться не будут. Чтобы выполнить условие
закона Брэгга, потребуется подбирать или длины волн, или углы
падения (производя сканирование). Обычно такое сканирование
производят экспериментально, выбрав область непрерывного
изменения значений
λ
или
θ
(чаще
θ
). Стандартные методы
структурного анализа кристаллов, основанные на дифракции,
разработаны именно для этой цели. В современных исследованиях
применяются три метода (иногда несколько модернизированных по
отношению к описанным ниже).
Метод Лауэ. В методе Лауэ, узкий (немонохроматический)
8