Измерение среднего времени жизни возбужденных состояний ядра Ta методом запаздывающих совпадений. Шумейко А.П - 24 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

ВГУ | Воронеж

Составители: 

Рубрика: 

24
регистрирующих края временного распределения N ( t ), поскольку
случайные совпадения распределяются по всем каналам равновероятно.
Практически с увеличением измеряемого времени приходится
увеличивать и разрешающее время. Сохранить удовлетворительное отношение
.c л
и
N
N
и приемлемую скорость счета (которая не делала бы измерения слишком
продолжительными) удается вплоть до времен жизни масштаба 10
-3
сек или
несколько выше.
Граница измерений области со стороны малых времен жизни ставится как
достижимой величиной разрешающего времени аппаратуры , определяемой
статистической природой процессов в детекторах излучений , так и
систематическими аппаратурными сдвигами и нестабильностями, весьма
существенными для применимости метода моментов . В наиболее
распространенном случае, когда излучения регистрируются
сцинтилляционными датчиками, представляющими комбинацию фосфора и
фотоэлектронного умножителя, предельное временное разрешение
ограничивается рядом факторов :
1) разброс времени пролета излучения от источника до детектора;
2) разброс времени замедления или поглощения излучения в
сцинтилляторе;
3) разброс времени передачи поглощенной энергии оптически активным
центрам и времени высвечивания последних ;
4) разброс времени собирания света;
5) разброс времени вылета электронов из фотокатода;
6) разброс времени пролета электронов от фотокатода до первого
динода;
7) разброс времени срабатывания пороговых формирующих устройств
на выходе ФЭУ и связанной с ним электроники (собственное разрешение
электронной схемы);
8) разброс времени срабатывания формирующих устройств ,
обусловленный разбросом амплитуд импульсов в выбранных участках
спектров ;
9) статистические свойства процесса умножения в динодной системе;
10) неопределенности во времени наведения импульса на аноде.
Влияние факторов 1 и 6 на кривую совпадений достаточно велико. Оно может
быть существенно уменьшено применением сцинтилляторов малых размеров и
выбором различной конструкции входного каскада ФЭУ (в частности, с
изогнутым фотокадодом ). Разброс времени замедления или поглощения
излучения в сцинтилляторах обычно заключен в пределах 10
-11
÷10
-10
сек. Вклад
собственного разрешающего времени электроники (пункт 7) очень мал и, как
показывают современные данные, может быть доведен до нескольких
пикосекунд (разрешающее время при измерении самосовпадений ).
Разброс времени срабатывания пороговых устройств , обусловленный
конечностью выбранных участков спектров , как будет показано ниже, весьма 
                                        24
регистрирующ их края в рем енного расп ределения                N(t),     п оскольку
случ айны есов п адения расп ределяютсяп о в сем каналам рав нов ероятно.
         Практич ески с ув елич ением изм еряем ого в рем ени п рих одится
ув елич ив ать и разреш ающ ее в рем я. Сох ранить удов летв орительное отнош ение
  Nи
         и п рием лем ую скорость сч ета (которая не делала бы изм ерения слиш ком
 N cл .
п родолж ительны м и) удается в п лоть до в рем ен ж изни м асш таба 10-3 сек или
несколько в ы ш е.
         Граница изм ерений области со стороны м алы х в рем ен ж изни став итсякак
достиж им ой в елич иной разреш ающ его в рем ени ап п аратуры , оп ределяем ой
статистич еской п риродой п роцессов в детекторах излуч ений, так и
систем атич еским и ап п аратурны м и сдв игам и и нестабильностям и, в есьм а
сущ еств енны м и для п рим еним ости м етода м ом ентов . В                наиболее
расп ространенном           случ ае,     когда      излуч ения      регистрируются
сцинтилляционны м и датч икам и, п редстав ляющ им и ком бинацию фосфора и
фотоэлектронного          ум нож ителя,    п редельное в рем енное разреш ение
огранич ив аетсярядом факторов :
        1) разбросв рем ени п ролета излуч енияотисточ ника до детектора;
        2) разбросв рем ени зам едленияили п оглощ енияизлуч енияв
сцинтилляторе;
        3) разбросв рем ени п ередач и п оглощ енной энергии оп тич ески актив ны м
центрам и в рем ени в ы св еч ив анияп оследних ;
        4) разбросв рем ени собираниясв ета;
        5) разбросв рем ени в ы лета электронов изфотокатода;
        6) разбросв рем ени п ролета электронов отфотокатода до п ерв ого
динода;
        7) разбросв рем ени срабаты в анияп орогов ы х форм ирующ их устройств
на в ы х одеФ Э У и св язанной сним электроники (собств енноеразреш ение
электронной сх ем ы );
        8) разбросв рем ени срабаты в анияформ ирующ их устройств ,
обуслов ленны й разбросом ам п литуд им п ульсов в в ы бранны х уч астках
сп ектров ;
        9) статистич ескиесв ойств а п роцесса ум нож енияв динодной систем е;
        10) неоп ределенности в о в рем ени нав еденияим п ульса на аноде.
В лияние факторов 1 и 6 на крив ую сов п адений достаточ но в елико. О но м ож ет
бы ть сущ еств енно ум еньш ено п рим енением сцинтилляторов м алы х разм еров и
в ы бором различ ной конструкции в х одного каскада Ф Э У (в ч астности, с
изогнуты м фотокадодом ). Разброс в рем ени зам едления или п оглощ ения
излуч енияв сцинтилляторах обы ч но заключ ен в п ределах 10-11÷10-10 сек. В клад
собств енного разреш ающ его в рем ени электроники (п ункт 7) оч ень м ал и, как
п оказы в ают сов рем енны е данны е, м ож ет бы ть дов еден до нескольких
п икосекунд (разреш ающ еев рем яп ри изм ерении сам осов п адений).
         Разброс в рем ени срабаты в ания п орогов ы х устройств , обуслов ленны й
конеч ностью в ы бранны х уч астков сп ектров , как будет п оказано ниж е, в есьм а

Страницы