Измерение среднего времени жизни возбужденных состояний ядра Ta методом запаздывающих совпадений. Шумейко А.П - 25 стр.

                                           25
сущ еств енен       и       м ож ет     бы ть знач ительно     сниж ен     суж ением
ам п литудны х интерв алов и сп ециальны м и сх ем ам и ам п литудной ком п енсации.
       О днако реш ающ им и оказы в аются в клады в ш ирину крив ы х м гнов енны х
сов п адений, обуслов ленны е оп тич еским и св ойств ам и сцинтилляторов и
м ех анизм ом в ы св еч ив ания, а такж естатистикой п роцесса ум нож енияв Ф Э У .
       И зуч ению этих в оп росов п осв ящ ено больш оеколич еств о теоретич еских и
эксп ерим ентальны х исследов аний. Т еоретич еские оп исания               слож ны х
п роцессов в сцинтилляторе и в Ф Э У основ аны на грубы х уп рощ ающ их
п редп олож ениях и п ока не п рив одят к точ ном у колич еств енном у объяснению
наблюдаем ы х на оп ы те св ой ств . О ни, однако, достаточ ны для кач еств енны х
оценок.
       Предп олож им , ч то интенсив ность св етов ой в сп ы ш ки, в ы зв анной в
фосфоре излуч ением , убы в ает со в рем енем эксп оненциально с п остоянной τф.
Д алее п рим ем , ч то каж ды й из R фотоэлектронов , в ы биты х из фотокатода п од
действ ием этой в сп ы ш ки, п осле ум нож ения в диодной систем е дает на аноде
Ф Э У п ач ку электронов , расп ределенны х в о в рем ени п о закону Гаусса с
дисп ерсией σ. Т огда, как п оказано Гатли и Св елто [17], дисп ерсия σn для
в рем ени п ояв ления на аноде Ф Э У п ач ки, соотв етств ующ ей n-м у электрону,
в ы битом у изфотокатода п ри услов ии n<