ВУЗ:
Составители:
22
фотопластинка перемещаются относительно рентгеновского луча, что по-
зволяет «просмотреть» поверхность всего образца.
Контрастность регистрируемого на фотопластинке изображения обу-
словлена тем, что интенсивность аномальной части луча очень чувстви-
тельна к малым искажениям кристаллической структуры образца. Любой
дефект, вызвавший смещение атомов правильных геометрических положе-
ний, нарушает условия аномального пропускания, что сказывается на
ин-
тенсивности проходящего излучения. Недостатком метода является то, что
получаемая информация о дефектности кристаллической структуры образ-
ца получается усредненной по всей толщине образца. Кроме того, исполь-
зование фотопластинки в качестве регистратора изображения сильно сни-
жает оперативность контроля. Оперативность удалось значительно повы-
сить путем визуального изображения распределения дефектов с помощью
телевизионной системы
на базе рентгеновского видикона.
Для исследования «тонких» образцов (μ·d < 1) применяется метод
Лэнга. Получение изображения с распределением дефектов по поверхно-
сти образца основано на эффекте первичной экстинкции рентгеновских
лучей (экстинкция от латинского exstinctio – гашение). Этот эффект за-
ключается в том, что в отражающем положении тонкие совершенные кри-
сталлы имеют более высокий коэффициент
поглощения, чем несовершен-
ные. Возникающая при этом разница интенсивностей дифрагированных
лучей, проходящих через совершенные и дефектные участки кристалла,
вызывает появление контраста изображения дефектов в виде затемненных
областей на светлом фоне.
Контрольные вопросы
1. Какие задачи можно решить с помощью рентгеновского микроскопа?
2.
Каким увеличением и разрешающей способностью обладают рентге-
новские микроскопы?
3.
В чем суть рентгеновской томографии?
4.
Каким образом возникает характеристическое излучение в рентге-
новской трубке?
5.
В чем суть рентгеноструктурного анализа и какие задачи можно ре-
шить с помощью рентгеновского дифрактометра?
6.
Что такое формула Вульфа–Брэгга и каким образом на ее основе
можно определить параметры кристаллической структуры объекта?
7.
Каким образом осуществляется контроль кристаллографической
ориентации слитка кремния, выращенного методом Чохральского?
8.
В чем суть метода рентгеновской топографии и для решения каких
задач предназначен этот метод?
9.
Чем обусловлена контрастность регистрируемого на топограмме
изображения пластины, имеющей структурные дефекты?
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 20
- 21
- 22
- 23
- 24
- …
- следующая ›
- последняя »
