ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
24
решетка позволяет резко (в
2
N
раз) усилить интенсивность света в об-
ласти максимумов по сравнению с картиной дифракции на одной щели.
Более строго распределение интенсивности света при дифракции
на решетке, показанное на рис.6, определяется [1] зависимостью
,
sinsin
sinsin
2
=Ι
ϕ
λ
π
ϕ
λ
π
ϕ
d
d
N
I
N
(14)
для которой остаются справедливыми условия (11), (12) и (13).
Главные максимумы разделены между собой не только главными
минимума, но и рядом “дополнительных минимумов”, которые образу-
ются вследствие интерференции N лучей при колебаниях вектора на-
пряженности электрического поля в противофазе. Такие лучи гасят друг
друга. Между «дополнительными минимумами» располагаются очень
слабые «вторичные максимумы», число которых между соседними
главными максимумами равно
2
втор
N
Ζ = −
. На рис.6 при N = 3 число
1
втор
Ζ =
.
При к = 0
(
)
0
к
ϕ
=
в точке х = 0 экрана против центра линзы распо-
ложен «центральный главный максимум». Симметрично относительно
него расположены менее интенсивные главные максимумы высших по-
рядков. Между главными минимумами первого порядка число главных
максимумов
,12 −=Ζ
b
d
гл
а между главными максимумами возрастающих порядков число глав-
ных максимумов
.1
'
−=Ζ
b
d
гл
На рис.6 для отношения
3
/
=
b
d
получено .2,5
'
=Ζ=Ζ
глгл
Ширина главных максимумов зависит от числа N щелей, участ-
вующих в дифракции, и определяется формулой
F
Nd
x
⋅
=∆
λ
2 (15)
Из сравнения формул (10) и (15) видно, что
o
xx
∆
<<
∆
(см. рис.6).
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 22
- 23
- 24
- 25
- 26
- …
- следующая ›
- последняя »
