ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
18
При прямом смещении р-n-перехода высота потенциального барьера 
снижается  и  электроны  из  n-области  диффундируют  (инжектируются)  в   
р-область,  где  они  и  рекомбинируют  с  дырками.  Аналогичным  образом 
дырки из р-области могут диффундировать в n-область и там рекомбини-
ровать  (в  реальных  приборах  преобладает  диффузия  только  одного  вида 
носителей,  причем  обычно  таковыми  являются  электроны).  Таким  обра-
зом,  рекомбинация  в  полупроводниковых  индикаторах  поддерживается 
благодаря инжекции неравновесных носителей через р-n-переход.  
Рис.2.2. Зонные диаграммы р-n-переходов: 
а 
–
 несмещенного р-n-перехода; б 
–
 прямосмещенного р-n-перехода 
Для получения высокой световой эффективности (световая эффектив-
ность  –  это  отношение  светового  потока,  создаваемого  индикатором,  к 
подводимой мощности; выражается в люмен на ватт (лм/Вт)) полупровод-
никовых индикаторов необходимо, чтобы основная доля энергии, освобо-
ждаемой при рекомбинации, расходовалась на излучение. Вероятность из-
лучательной рекомбинации, в первую очередь, связана со специфической 
формой зонной диаграммы полупроводника. Зонные диаграммы двух клас-
сов полупроводников, широко применяемых в индикаторах (прямозонных 
и непрямозонных), иллюстрируются рис. 2.2, на котором показана зависи-
мость  энергии  носителя  заряда  от  значения  волнового  вектора  (квазиим-
пульса) К
в
 для полупроводников GaAs
1-x
Р
x
 при изменении х. 
Отличительной  чертой  прямозонных  полупроводников  является  то, 
что главный минимум зоны проводимости и максимум валентной зоны со-
ответствуют одному и тому же значению К
в
 (кривые при x = 0, х = 0,4). Та-
ким образом, электрон и дырка, участвующие в рекомбинации, имеют оди-
наковые импульсы, то есть этот процесс происходит с изменением энергии 
сохранением импульса. Вероятность такой двойной рекомбинации доста-
точно велика. 
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 14
- 15
- 16
- 17
- 18
- …
- следующая ›
- последняя »
