ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
70
дешевизну изготовления, широкий диапазон номиналов сопротивлений,
возможность формирования фоточувствительных элементов сложной
конфигурации. Основные недостатки - значительная инерционность,
температурная и временная нестабильность параметров, сравнительно большой
темновой ток.
2.3.3. Фотоэлектрический эффект в n-р-переходе
Рассмотрим идеализированный n-р переход, облучаемый светом с
энергией фотонов, превышающей ширину запрещенной зоны полупроводника.
При собственном поглощении в переходе и прилегающих к нему областях
происходит образование неравновесных носителей заряда, которые
разделяются полем n-р перехода. Под действием этого поля дырки переходят в
p-область, а электроны - в n-область полупроводника.
Процессу разделения подвержены только те носители заряда, которые
генерируются под действием света в самом n-р переходе и на расстоянии от
него порядка диффузионной длины неосновных носителей. При этом через
переход течет ток неравновесных неосновных носителей заряда, так как
неравновесные основные носители не могут преодолеть потенциальный барьер
перехода и остаются в области генерации. В результате разделения оптически
генерируемых носителей концентрация дырок в р-области и электронов в n-
области возрастает, что приводит к компенсации объемного заряда и,
следовательно, уменьшению потенциального барьера на переходе.
Это приводит к увеличению диффузионного тока основных носителей
заряда, направленного навстречу фототоку. В стационарном состоянии при
постоянном световом потоке ток диффузии равен дрейфовому току:
I = I
дф
- I
ф
- I
о
= 0 (2.5)
Потенциальный барьер снижается на величину фотоЭДС, которая при
разомкнутой внешней цепи называется напряжением холостого хода.
Тогда
I
ф
= I
о
(exр[U
хх
/ϕ
т
] - 1) (2.6)
Или
U
хх
= ϕ
т
ln(1 + I
ф
/I
о
) (2.7)
В этих уравнениях
I
дф
- диффузионный ток основных носителей заряда,
I
ф
- фототок,
I
о
- тепловой ток через переход
ϕ
т
- контактная разность потенциалов
дешевизну изготовления, широкий диапазон номиналов сопротивлений, возможность формирования фоточувствительных элементов сложной конфигурации. Основные недостатки - значительная инерционность, температурная и временная нестабильность параметров, сравнительно большой темновой ток. 2.3.3. Фотоэлектрический эффект в n-р-переходе Рассмотрим идеализированный n-р переход, облучаемый светом с энергией фотонов, превышающей ширину запрещенной зоны полупроводника. При собственном поглощении в переходе и прилегающих к нему областях происходит образование неравновесных носителей заряда, которые разделяются полем n-р перехода. Под действием этого поля дырки переходят в p-область, а электроны - в n-область полупроводника. Процессу разделения подвержены только те носители заряда, которые генерируются под действием света в самом n-р переходе и на расстоянии от него порядка диффузионной длины неосновных носителей. При этом через переход течет ток неравновесных неосновных носителей заряда, так как неравновесные основные носители не могут преодолеть потенциальный барьер перехода и остаются в области генерации. В результате разделения оптически генерируемых носителей концентрация дырок в р-области и электронов в n- области возрастает, что приводит к компенсации объемного заряда и, следовательно, уменьшению потенциального барьера на переходе. Это приводит к увеличению диффузионного тока основных носителей заряда, направленного навстречу фототоку. В стационарном состоянии при постоянном световом потоке ток диффузии равен дрейфовому току: I = Iдф - Iф - Iо = 0 (2.5) Потенциальный барьер снижается на величину фотоЭДС, которая при разомкнутой внешней цепи называется напряжением холостого хода. Тогда Iф = Iо(exр[Uхх/ϕт] - 1) (2.6) Или Uхх = ϕт ln(1 + Iф/Iо) (2.7) В этих уравнениях Iдф - диффузионный ток основных носителей заряда, Iф - фототок, Iо - тепловой ток через переход ϕт - контактная разность потенциалов 70
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 65
- 66
- 67
- 68
- 69
- …
- следующая ›
- последняя »