ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
54
Рис. 3.11. Схемы электронных пушек с магнитной фокусировкой
Следует отметить, что благодаря сравнительно большим размерам
магнитных линз они дают меньшие, чем электростатические линзы,
аберрации, в результате чего хорошо фокусируются сравнительно широкие
электронные пучки. Несмотря на это, такие линзы редко применяются в
электронно-лучевых приборах из-за их больших габаритов, веса и
потребления тока.
3.6. Отклоняющие системы
В подавляющем большинстве электронно-лучевых приборов
электронные пучки, сформированные соответствующим фокусирующим
устройством, необходимо отклонить, т.е. направить на определенные
участки приемника пучка. Как и для фокусировки, для отклонения
электронных пучков используются электрические или магнитные поля,
создаваемые соответствующими устройствами.
К отклоняющим устройствам предъявляются следующие требования:
1. Отклоняющая система должна иметь большую чувствительность.
2. Система должна обеспечивать необходимый угол отклонения пучка.
3. Искажения, вносимые в изображения отклоняющей системой, должен
быть минимальным.
4. В ряде случаев требуется возможно меньшая емкость и
индуктивность цепи отклоняющей системы.
На практике все эти требования в полной мере реализовать трудно и
выбор типа отклоняющей системы связан с требованиями, предъявляемыми
к прибору в целом.
Рис. 3.11. Схемы электронных пушек с магнитной фокусировкой Следует отметить, что благодаря сравнительно большим размерам магнитных линз они дают меньшие, чем электростатические линзы, аберрации, в результате чего хорошо фокусируются сравнительно широкие электронные пучки. Несмотря на это, такие линзы редко применяются в электронно-лучевых приборах из-за их больших габаритов, веса и потребления тока. 3.6. Отклоняющие системы В подавляющем большинстве электронно-лучевых приборов электронные пучки, сформированные соответствующим фокусирующим устройством, необходимо отклонить, т.е. направить на определенные участки приемника пучка. Как и для фокусировки, для отклонения электронных пучков используются электрические или магнитные поля, создаваемые соответствующими устройствами. К отклоняющим устройствам предъявляются следующие требования: 1. Отклоняющая система должна иметь большую чувствительность. 2. Система должна обеспечивать необходимый угол отклонения пучка. 3. Искажения, вносимые в изображения отклоняющей системой, должен быть минимальным. 4. В ряде случаев требуется возможно меньшая емкость и индуктивность цепи отклоняющей системы. На практике все эти требования в полной мере реализовать трудно и выбор типа отклоняющей системы связан с требованиями, предъявляемыми к прибору в целом. 54
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 52
- 53
- 54
- 55
- 56
- …
- следующая ›
- последняя »