ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
13
ческом или электрохимическом осаждении на нее другого материала
обратная сторона подложки покрывается кислотоупорным лаком.
На заключительной стадии процесса фотолитографии, как
правило, следует удаление использованного фоторезистивного рель-
ефа с помощью растворителей: диоксана, диметилформалида, моно-
этаноламина, дихлорэтана и др., обычно с применением механиче-
ского воздействия.
Фотошаблоны
Фотошаблон – образец (шаблон), несущий информацию о
взаиморасположении и геометрических размерах элементов изготав-
ливаемой микроэлектронной схемы. Фотошаблон называется пря-
мым, если его рисунок является позитивным отображением ориги-
нала, и обратным, если его рисунок является негативным отображе-
нием оригинала. Фотошаблон может быть изготовлен из любого не-
прозрачного для ультрафиолетового излучения материала, в котором
можно было бы реализовать (выполнить) прозрачные участки. Чаще
всего в качестве фотошаблона применяют пластины из оптического
стекла или кварца, на одной поверхности которых расположены не-
прозрачные (оптически плотные) участки, получаемые фотолито-
графическим или иным способом.
Технология изготовления фотошаблонов является одним из
наиболее сложных процессов в микроэлектронике. Это обусловлено
рядом специфических особенностей фотошаблонов и предъявляе-
мыми к ним требованиями. Основные требования к фотошаблонам
следующие:
1. Высокая разрешающая способность, которая диктуется не-
обходимостью получения минимальных размеров элементов рисунка
– от единиц до десятых долей микрона. Поэтому разрешающая спо-
собность фотошаблона должна быть порядка 1000 линий/мм.
2. Достаточно большая площадь рабочего поля, необходимая
для размещения на нем большого количества элементов изображе-
ния. Рабочее поле фотошаблона обычно имеет размеры примерно
14
50х50 мм
2
, что позволяет расположить на нем от десятков до десят-
ков тысяч элементов.
3. Высокая контрастность, которая обеспечивается большой
оптической плотностью непрозрачных участков и отсутствием вуали
на прозрачных участках.
4. Высокая точность размеров элементов и расстояний между
ними. Первое из этих требований связано с необходимостью обеспе-
чения точных размеров активных и пассивных структур интеграль-
ных микросхем для уменьшения разброса их электрических пара-
метров. Второе требование обусловлено необходимостью последо-
вательного совмещения нескольких фотошаблонов, входящих в один
комплект, предназначенный для многослойных структур в микро-
схемах.
5. Высокое качество оптически плотных участков. Фотошаб-
лоны не должны иметь на непрозрачных участках царапины, проко-
лы, пятна и т.д. Полное отсутствие дефектов, особенно в сложных и
больших по площади фотошаблонах, получить очень трудно. Поэто-
му обычно принимают, что количество дефектных элементов рисун-
ка не должно превышать 1%.
6. Плоскостность рабочей поверхности фотошаблона, которая
должна быть не хуже 0,5 мкм на длине 25 мм, чтобы избежать зазо-
ров между слоем фоторезиста и шаблоном при контактной печати.
7. Стабильность характеристик фотошаблонов и их износо-
стойкость во времени. Частое прижатие фотошаблона к подложке,
покрытой фоторезистом, при экспозиции контактным способом при-
водит к его стиранию. Обычно эмульсионные фотошаблоны не вы-
держивают более 20 операций контактной печати. В связи с этим
широко применяются фотошаблоны, использующие в качестве оп-
тически плотного слоя не фотоэмульсии, а более износостойкие ме-
таллические покрытия (например, хром). Металлизированные фото-
шаблоны выдерживают более 1000 операций контактной печати.
При изготовлении непрозрачного слоя фотошаблона могут
быть использованы следующие материалы:
1) серебряная эмульсия;
ческом или электрохимическом осаждении на нее другого материала 50х50 мм2, что позволяет расположить на нем от десятков до десят- обратная сторона подложки покрывается кислотоупорным лаком. ков тысяч элементов. На заключительной стадии процесса фотолитографии, как 3. Высокая контрастность, которая обеспечивается большой правило, следует удаление использованного фоторезистивного рель- оптической плотностью непрозрачных участков и отсутствием вуали ефа с помощью растворителей: диоксана, диметилформалида, моно- на прозрачных участках. этаноламина, дихлорэтана и др., обычно с применением механиче- 4. Высокая точность размеров элементов и расстояний между ского воздействия. ними. Первое из этих требований связано с необходимостью обеспе- чения точных размеров активных и пассивных структур интеграль- Фотошаблоны ных микросхем для уменьшения разброса их электрических пара- Фотошаблон – образец (шаблон), несущий информацию о метров. Второе требование обусловлено необходимостью последо- взаиморасположении и геометрических размерах элементов изготав- вательного совмещения нескольких фотошаблонов, входящих в один ливаемой микроэлектронной схемы. Фотошаблон называется пря- комплект, предназначенный для многослойных структур в микро- мым, если его рисунок является позитивным отображением ориги- схемах. нала, и обратным, если его рисунок является негативным отображе- 5. Высокое качество оптически плотных участков. Фотошаб- нием оригинала. Фотошаблон может быть изготовлен из любого не- лоны не должны иметь на непрозрачных участках царапины, проко- прозрачного для ультрафиолетового излучения материала, в котором лы, пятна и т.д. Полное отсутствие дефектов, особенно в сложных и можно было бы реализовать (выполнить) прозрачные участки. Чаще больших по площади фотошаблонах, получить очень трудно. Поэто- всего в качестве фотошаблона применяют пластины из оптического му обычно принимают, что количество дефектных элементов рисун- стекла или кварца, на одной поверхности которых расположены не- ка не должно превышать 1%. прозрачные (оптически плотные) участки, получаемые фотолито- 6. Плоскостность рабочей поверхности фотошаблона, которая графическим или иным способом. должна быть не хуже 0,5 мкм на длине 25 мм, чтобы избежать зазо- Технология изготовления фотошаблонов является одним из ров между слоем фоторезиста и шаблоном при контактной печати. наиболее сложных процессов в микроэлектронике. Это обусловлено 7. Стабильность характеристик фотошаблонов и их износо- рядом специфических особенностей фотошаблонов и предъявляе- стойкость во времени. Частое прижатие фотошаблона к подложке, мыми к ним требованиями. Основные требования к фотошаблонам покрытой фоторезистом, при экспозиции контактным способом при- следующие: водит к его стиранию. Обычно эмульсионные фотошаблоны не вы- 1. Высокая разрешающая способность, которая диктуется не- держивают более 20 операций контактной печати. В связи с этим обходимостью получения минимальных размеров элементов рисунка широко применяются фотошаблоны, использующие в качестве оп- – от единиц до десятых долей микрона. Поэтому разрешающая спо- тически плотного слоя не фотоэмульсии, а более износостойкие ме- собность фотошаблона должна быть порядка 1000 линий/мм. таллические покрытия (например, хром). Металлизированные фото- 2. Достаточно большая площадь рабочего поля, необходимая шаблоны выдерживают более 1000 операций контактной печати. для размещения на нем большого количества элементов изображе- При изготовлении непрозрачного слоя фотошаблона могут ния. Рабочее поле фотошаблона обычно имеет размеры примерно быть использованы следующие материалы: 1) серебряная эмульсия; 13 14
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 5
- 6
- 7
- 8
- 9
- …
- следующая ›
- последняя »