Защита электронных средств от механических воздействий. Теоретические основы. Талицкий Е.Н. - 207 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

ВлГУ | Владимир

Составители: 

Рубрика: 

энергии системы с одной степенью свободы [3], т.е.
2
П
2
макс
макс
ΖΚ
)
)
= ;
2
ω
Т
2
0
2
макс
макс
Ζm
)
)
= , (8.31)
где
),(/),,(
фгмакс
yxКtyxΖΖ =
)
;
Если на ячейку в точку с координатами (x, y) установить дополни-
тельный инерционный элемент массой m
2
(рис. 8.6, а), то кинетическая
энергия такой системы опишется формулой
2
),(
2
ТТT
2
г0
2
г
2
г0
2
макс
гмакспмакссмакс
ω
+
ω
=+=
yxΖmΖm
)
)
)
,
где
),(/),,(
фгг0макс
yxkyxΖΖ ω=
)
;
Т
пмакс
– максимальная кинетическая энергия ячейки;
Т
гмакс
– максимальная кинетическая энергия дополнительного инер-
ционного элемента;
г0
ω – круговая резонансная частота ячейки с дополнительным инер-
ционным элементом.
Если масса дополнительного инерционного элемента m
Г
много мень-
ше сосредоточенной массы ячейки, то К
ф
(x,y)=К
фг
(x,y). Потенциальная
энергия ячейки при установке точечного дополнительного инерционного
элемента остается без изменения. Учитывая, что при резонансе П
макс
=Т
макс
для ячейки без дополнительного инерционного элемента и П
смакс
=Т
смакс
для
ячейки с дополнительным инерционным элементом, правомерно записать
систему уравнений
⎪
⎩
⎪
⎨
⎧
ω=ω−
=ω−
.),(
,0
2
г0
2
ф
2
г
2
г0
2
yxKmmК
mК
)
)
)
)
Решение системы относительно неизвестных
K
)
и m
)
дает выражения
2
г0
2
0
22
г0
2
0
2
фг
4),(
ff
ffyxKm
Κ
π
=
)
; (8.32)
2
г0
2
0
2
г0
2
фг
),(
ff
fyxKm
m =
)
, (8.33)
где f
0
и f
0Г
– собственные частоты колебаний ячейки и ячейки с дополни-
тельным инерционным элементом соответственно.
Собственные частоты колебаний f
0
и f
0Г
находятся либо эксперимен-
тально, либо теоретически, например, определяется по программам, реали-
зующим численные методы расчета колебаний пластинчатых конструкций.
Определение сосредоточенной жесткости демпфирующей вставки.
206

Страницы