ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
Основные положения дисциплины должны быть использованы в дальней-
шем при изучении курса «Автоматизация проектирования» и при дипломном
проектировании.
6. Сводные данные об основных разделах дисциплины и распределения
часов по видам занятий.
Количество часов занятий
аудиторных
Название раздела
лекци-
онных
практи-
ческих
лабора-
торных
самостоя
тельных
Уровни *
изучения
Введение 2 – – – А
Моделирование техно-
логических процессов
10 – 10 16 В
Моделирование полу-
проводниковых струк-
тур
6 4 4 24 В
Моделирование элемен-
тов интегральных схем
10 10 3 10 В
Моделирование ИМС 6 3 – 8 Г
* А – для общей эрудиции;
В - для использования непосредственно в профессиональной деятельности;
Г - вновь рассматриваемый раздел.
7. Лекции.
7.1. Разделы и их содержание.
Введение.
7.1.1. Моделирование технологических процессов (10 часов).
Модели процессов ионного легирования, модели диффузионных процес-
сов. Модели термического окисления. Моделирование граничных процессов.
Моделирование процессов эпитаксии. Моделирование процессов литографии.
Моделирование процессов с
использованием поликремния.
7.1.2. Моделирование полупроводниковых структур (6 часов).
Назначение и проблемы численного моделирования полупроводниковых
структур. Основные уравнения полупроводника. Ограничения моделей. Воз-
можные подходы к моделированию. Особенности применения приближенных
структурно-физических моделей.
7.1.3. Моделирование элементов интегральных схем (10 часов).
Требования к математическим моделям. Модели биполярного транзистора
Эберса-Молла и Гуммеля-Пина. Обобщенное выражение коэффициента
пере-
дачи тока. Модели биполярного транзистора для большого и малого сигналов.
Идентификация параметров электрической модели биполярного транзистора.
Основные положения дисциплины должны быть использованы в дальней- шем при изучении курса «Автоматизация проектирования» и при дипломном проектировании. 6. Сводные данные об основных разделах дисциплины и распределения часов по видам занятий. Количество часов занятий Название раздела аудиторных Уровни * лекци- практи- лабора- самостоя изучения онных ческих торных тельных Введение 2 – – – А Моделирование техно- 10 – 10 16 В логических процессов Моделирование полу- 6 4 4 24 В проводниковых струк- тур Моделирование элемен- 10 10 3 10 В тов интегральных схем Моделирование ИМС 6 3 – 8 Г * А – для общей эрудиции; В - для использования непосредственно в профессиональной деятельности; Г - вновь рассматриваемый раздел. 7. Лекции. 7.1. Разделы и их содержание. Введение. 7.1.1. Моделирование технологических процессов (10 часов). Модели процессов ионного легирования, модели диффузионных процес- сов. Модели термического окисления. Моделирование граничных процессов. Моделирование процессов эпитаксии. Моделирование процессов литографии. Моделирование процессов с использованием поликремния. 7.1.2. Моделирование полупроводниковых структур (6 часов). Назначение и проблемы численного моделирования полупроводниковых структур. Основные уравнения полупроводника. Ограничения моделей. Воз- можные подходы к моделированию. Особенности применения приближенных структурно-физических моделей. 7.1.3. Моделирование элементов интегральных схем (10 часов). Требования к математическим моделям. Модели биполярного транзистора Эберса-Молла и Гуммеля-Пина. Обобщенное выражение коэффициента пере- дачи тока. Модели биполярного транзистора для большого и малого сигналов. Идентификация параметров электрической модели биполярного транзистора.
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 3
- 4
- 5
- 6
- 7
- …
- следующая ›
- последняя »