Получение и исследования наноструктур. Вальднер В.О - 36 стр.

                               36

пии, ознакомиться с порядком включения сканирующего зондо-
вого микроскопа и порядком работы на нем, изучить разделы, ре-
комендованные в библиографическом списке.
                 Библиографический список
     1.Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроско-
пии: Учебное пособие для студентов старших курсов высших
учебных заведений – Нижний Новгород: ИФМ РАН, 2004. –
114 с., ил.; разделы 1.1, 1.5, 2.2.
     2.Галлямов М.О., Яминский И.В. Сканирующая зондовая
микроскопия нуклеиновых кислот – М.: УНЦ по физике и химии
полимеров, Физический факультет МГУ им. М.В. Ломоносова,
ЦПТ, 1998 – 17 с., ил.; раздел 1.
     3.Solver P47H. Руководство пользователя. 845 версия про-
граммы для Windows 95/98 – М.: НИИФП, ЗАО «НТ-МДТ», 2004
– 173 с., ил.; разделы 1.1¸ 1.2, 1.4, 3.1 – 3.7, 5.1 – 5.8, 5.10.
                    Контрольные вопросы
      1.Сформулируйте общий принцип работы сканирующего зон-
дового микроскопа.
      2.Обоснуйте необходимость наличия системы обратной связи
в сканирующем зондовом микроскопе.
      3.Какова физическая основа работы сканирующего силового
микроскопа и, в частности, атомно-силового микроскопа?
      4.На чем основана работа оптической системы детектирова-
ния силы взаимодействия острия зонда атомно-силового микроско-
па с поверхностью?
      5. В чем заключается принцип «оптического рычага»?
      6.Назовите основные характеристики зондов кантилеверного
типа.
      7.Опишите основные режимы работы атомно-силового мик-
роскопа: контактный, бесконтактный и «полуконтактный».
      8.Перечислите источники побочной информации, искажаю-
щей данные о морфологии и свойствах наноструктур, получаемые
методом атомно-силовой микроскопии.