Получение и исследования наноструктур. Вальднер В.О - 37 стр.

UptoLike

Рубрика: 

37
9.Опишите принцип действия медианной фильтрации, приме-
няемой при обработке изображений, полученных с помощью ска-
нирующей зондовой микроскопии.
10.Качественно опишите влияние конечного размера и формы
острия зонда на изображения, получаемые методом атомно-
силовой микроскопии.
Общие принципы работы сканирующих
зондовых микроскопов
Сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ) является одним
из наиболее мощных современных методов исследования морфо-
логии (микро- и нанорельефа) и локальных свойств поверхности
твердого тела и наноструктур на этой поверхности с высоким про-
странственным разрешением. К настоящему моменту СЗМ превра-
тилась из экзотической методики, доступной лишь ограниченному
числу исследовательских групп, в широко распространенный и ус-
пешно применяемый инструмент.
Исследование морфологии и локальных свойств методами
СЗМ проводится с помощью специальным образом приготовлен-
ных зондов. Рабочая часть таких зондов (острие) имеет размеры
порядка десяти нанометров. Характерное расстояние между зон-
дом и поверхностью образцов в зондовых микроскопах составля-
ет, по порядку величины, 0.1 – 10 нм. В основе работы СЗМ ле-
жат различные типы взаимодействия зонда с поверхностью. Ра-
бота туннельного микроскопа основана на явлении протекания
туннельного тока между металлической иглой и проводящим об-
разцом. В основе работы атомно-силового, магнитно-силового,
электросилового и других силовых микроскопов лежат различные
типы силового взаимодействия.
Общие черты, присущие различным СЗМ можно представить
следующим образом. Пусть взаимодействие зонда с поверхностью
характеризуется некоторым параметром
P
. Если существует дос-
таточно резкая и взаимно однозначная зависимость параметра
P
от
расстояния между зондом и образцом
)(zPP
=
, то данный пара-
метр может быть использован для организации системы обратной
связи (ОС), контролирующей расстояние между зондом и образ-
                              37

     9.Опишите принцип действия медианной фильтрации, приме-
няемой при обработке изображений, полученных с помощью ска-
нирующей зондовой микроскопии.
     10.Качественно опишите влияние конечного размера и формы
острия зонда на изображения, получаемые методом атомно-
силовой микроскопии.
           Общие принципы работы сканирующих
                  зондовых микроскопов
     Сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ) является одним
из наиболее мощных современных методов исследования морфо-
логии (микро- и нанорельефа) и локальных свойств поверхности
твердого тела и наноструктур на этой поверхности с высоким про-
странственным разрешением. К настоящему моменту СЗМ превра-
тилась из экзотической методики, доступной лишь ограниченному
числу исследовательских групп, в широко распространенный и ус-
пешно применяемый инструмент.
     Исследование морфологии и локальных свойств методами
СЗМ проводится с помощью специальным образом приготовлен-
ных зондов. Рабочая часть таких зондов (острие) имеет размеры
порядка десяти нанометров. Характерное расстояние между зон-
дом и поверхностью образцов в зондовых микроскопах составля-
ет, по порядку величины, 0.1 – 10 нм. В основе работы СЗМ ле-
жат различные типы взаимодействия зонда с поверхностью. Ра-
бота туннельного микроскопа основана на явлении протекания
туннельного тока между металлической иглой и проводящим об-
разцом. В основе работы атомно-силового, магнитно-силового,
электросилового и других силовых микроскопов лежат различные
типы силового взаимодействия.
     Общие черты, присущие различным СЗМ можно представить
следующим образом. Пусть взаимодействие зонда с поверхностью
характеризуется некоторым параметром P . Если существует дос-
таточно резкая и взаимно однозначная зависимость параметра P от
расстояния между зондом и образцом P = P (z ) , то данный пара-
метр может быть использован для организации системы обратной
связи (ОС), контролирующей расстояние между зондом и образ-