ВУЗ:
Составители:
216
число одиночных логических дефектов ЛС не может превышать чис-
ла, определяемого выражением
12
1
2
−
∑
=
=
k
i
i
m
l ,
где k - число ЛЭ данной ЛС, m
i
- число входов i-го ЛЭ.
Если множество возможных дефектов ЛС включает и кратные
логические дефекты, то для оценки его мощности следует исследо-
вать проблему различимости на этом множестве. Однако, как прави-
ло, число различимых возможных дефектов ЛЭ существенно меньше
чем l
i
. Исследование реальных электронных схем ЛЭ показывают,
что большинство физических дефектов (обрывы и короткие замыка-
ния компонентов; параметрические изменения свойств компонентов
схемы не приводят к нарушению ее логической функции), наличие
которых нарушает логическую функцию, эквивалентно тому, что оп-
ределённая комбинация входных переменных ЛЭ или его выход, ока-
зываются зафиксированы константами 0
или 1. Такие дефекты назы-
вают константными дефектами (константа 0, константа 1), они соот-
ветствуют обрыву или короткому замыканию входа или выхода ЛЭ.
Это самый большой подкласс класса логических дефектов.
Пусть имеется определенная ЛС. Будем обозначать дефект i-го
ЛЭ схемы через s
i-t
, если выход i-го ЛЭ имеет константное значение
t, и s
i,j-t
, если j-й вход i-го элемента имеет постоянно значение t,
t
∈
{0,1}. Если множество рассматриваемых дефектов ЛС составляют
только одиночные дефекты, то мощность этого множества опреде-
лится из выражения
∑
+=
−
k
i
i
ml
1
)1(2,
где k - число ЛЭ в ЛС, m
i
- число входов i-го ЛЭ, m
i
+1 - возможное
число однотипных константных дефектов (0 или 1). Обозначим ус-
ловно f
i,j-t
(x
1
,x
2
,…,x
m
) – функцию, реализуемую ЛС при наличии в ней
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 218
- 219
- 220
- 221
- 222
- …
- следующая ›
- последняя »
