ВУЗ:
Составители:
217
неисправности s
i,j-t
.
Задачи технической диагностики могут быть решены различ-
ными способами. Различают тестовые способы и функциональные
способы. Исходной информацией для реализации последних служат
сигналы о рабочих входных и выходных сигналах ОД. Тестовые спо-
собы предполагают организацию специальных тестовых режимов
функционирования. Для реализации тестовых способов необходимо
предварительно синтезировать тест. Ниже мы рассмотрим один
из
возможных методов синтеза тестов для комбинационных ЛС.
Дефект s
i,j-t
проверяется на входном наборе е ЛС, если f
i,j-t
(e)
≠
f(e). Аналогично при кратном дефекте S={s
i,j-t
} кратности k, дефект
проверяется на входном наборе е схемы. Если f
S
(e)
≠
f(e).
Для анализа множества дефектов ЛС пользуются таблицами
функций неисправностей (ТФН). Приведем таблицу функций неис-
правности ЛЭ “И” на два входа (табл. 6.2). Таблица 6.2
Более удобной формой
представления информации о де-
фектах является таблица неис-
правностей (ТН), которую строят
по ТФН путем сравнения столбца f
0
со столбцами f
i,j-t
: единица в
ячейку ТН заносится в том случае, если на данном наборе f
0
и f
i,j-t
не
совпадают. Таблица неисправностей для ТФН (см. табл. 6.2) приве-
дена в табл. 6.3. Таблица 6.3
Ясно, что на пересечении i-й
строки и j-го столбца стоит 1, если
j-й дефект проверяется на i-м
входном наборе, в противном слу-
чае клетка не заполняется. Аналогичные таблицы (ТФН и ТН) могут
быть построены для ЛС. Строки этих таблиц соответствуют входным
x
1
x
2
f
0
f
1,1-1
f
1,2-1
f
1,1-0
f
1,2-0
f
1-1
f
1-0
0 0 0 0 0 0 0 1 0
0 1 0 1 0 0 0 1 0
1 0 0 0 1 0 0 1 0
1 1 1 1 1 0 0 1 0
x
1
x
2
s
1,1-1
s
1,2-1
s
1,1-0
s
1,2-0
s
1-1
s
1-0
0 0 1
0 1 1 1
1 0 1 1
1 1 1 1 1
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 219
- 220
- 221
- 222
- 223
- …
- следующая ›
- последняя »