Основы синтеза и диагностирования автоматов. Воронин В.В. - 223 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

ТОГУ | Хабаровск

Составители: 

Рубрика: 

219
именно: {00,01,10}; {00,01,11}; {00,10,11}; {01,10,11}.
6.2. Методика построения тестов
Пусть имеется одновыходная комбинационная схема М
0
, реали-
зующая логическую функцию f
0
(x
1
,x
2
,…,x
m
) на множестве входных
наборов Е, и задано множество S возможных неисправностей этой
ЛС. Обозначим через M
i
схему, полученную из схемы М
0
путём вне-
сения в неё неисправности s
i
∈
S и реализующую функцию
f
i
(x
1
,x
2
,…,x
m
), а через p – мощность множества S (число возможных
неисправностей схемы).
Множество входных наборов T
k
∈
E называется контролирую-
щим тестом ЛС, если для каждой неисправности s
i
∈
S, такой, что
f
0
(x
1
,x
2
,…,x
m
)
≠
f
i
(x
1
,x
2
,…,x
m
),
найдётся набор е
∈
T
k
, на котором f
0
(e)
≠
f
i
(e).
Множество входных наборов T
d
∈
E называется диагностическим
тестом ЛС, если для каждой пары функций (f
i
,f
j
), i
≠
j, i,j
≤
p, такой, что
f
i
(x
1
,x
2
,…,x
m
)
≠
f
j
(x
1
,x
2
,…,x
m
),
найдётся набор е
∈
T
d
, на котором f
i
(e)
≠
f
j
(e).
Пусть для каждого элемента ЛС задано множество возможных
неисправностей. Под одиночной неисправностью ЛС будем понимать
неисправность одного ЛЭ этой схемы, под кратной неисправностью
– произвольное сочетание одиночных неисправностей.
Тест называется одиночным, если множество S содержит только
одиночные неисправности. Тест называется полным, если множество
S содержит все возможные кратные неисправности схемы.
Тест называется тупиковым, если удаление из него любого
подмножества входных наборов приводит к тому, что оставшееся
множество наборов не является тестом.

Страницы