Основы синтеза и диагностирования автоматов. Воронин В.В. - 222 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

ТОГУ | Хабаровск

Составители: 

Рубрика: 

218
наборам, столбцы – неисправностям схемы, под которыми понима-
ются неисправности её элементов.
Из табл. 6.3 видно, что ряд дефектов проверяется на различных
наборах, и поэтому они являются различимыми, например, s
1,1-1
и
s
1,2-1
. Дефекты s
1,1-0
, s
1,2-0
и s
1-0
неразличимы, так как проверяются на
одном и том же наборе (11). Они образуют класс эквивалентных де-
фектов (КЭД); обычно в ТН не указывают столбцы для всех эквива-
лентных дефектов, а оставляют один столбец для каждого КЭДа. В
табл. 6.4 имеем один КЭД К
1
={s
1,1-0
,s
1,2-0
,s
1-0
}. Таблица 6.4
Приведем ТН для ЛЭ «ИЛИ» (табл. 6.5).
В этой таблице К
2
={s
1,1-1
,s
1,2-1
,s
1-1
}. В табл.
6.6 приведена ТН для ЛЭ сложение по моду-
лю два.
Таблица 6.6 Таблица 6.5
x
1
x
2
s
1,1-1
s
1,2-1
s
1,1-0
s
1,2-0
s
1-1
s
1-0
0 0 1 1 1
0 1 1 1 1
1 0 1 1 1
1 1 1 1 1
Из табл. 6.6 видно, что любой дефект s
i,j-t
проверяется на каж-
дом из входных наборов, на котором значение i-го входа равно
⎯t.
Все неисправности элемента являются различимыми и, следователь-
но, число различимых дефектов равно 2m+1.
Формально доказано, что для контроля работоспособности ЛЭ
(проверки отсутствия всех неисправностей) необходимо и достаточ-
но m+1 входных наборов. Так, например, множество входных набо-
ров {01,10,11} позволяет проверить элемент «И»; множество вход-
ных наборов {00,01,11} - ЛЭ сумма
по модулю 2. Однако если для
ЛЭ «И» существует только одно неизбыточное множество прове-
ряющих наборов, то для элемента сумма по модулю 2 – четыре, а
x
1
x
2
s
1,1-1
s
1,2-1
s
1-1
К
1
00 1
01 1 1
10 1 1
11 1
x
1
x
2
s
1,1-0
s
1,2-0
s
1-0
K
2
00 1
01 1 1
10 1 1
11 1

Страницы