Спектральные приборы. Загрубский А.А - 18 стр.

UptoLike

Рубрика: 

обычно делают наклонной к плоскости решетки для увеличения интен-
сивности пучка, дифрагирующего в нужном направлении. Такие решет-
ки называют
решетками с профилированным штрихом, или
решетками с концентрацией света. Иногда подобные прозрачные ре-
шетки с большими отношениями шага решетки
t к длине волны, т.е.
предназначенные для работы в высоких порядках дифракции, называют
эшелеттами, или эшелонами.
Вогнутые поверхности имеют смысл в тех случаях, когда необхо-
димо предельно уменьшить количество элементов СП для минимизации
потерь интенсивности. Например, в вакуумной УФ-области спектра
(
λ<180 нм, здесь воздух уже поглощает свет) и особенно при λ<110 нм,
где отсутствуют прозрачные материалы, а коэффициенты отражения не
превышают 5
÷25%, широко применяются оптические схемы, не содер-
жащие коллиматоров, – решетка и разлагает спектр и фокусирует его.
На плоской поверхности обычно наносят прямые, параллельные
эквидистантные штрихи. На сферической вогнутой поверхности есть,
как минимум, два существенно различных способа нанесения штрихов
как меридианы (сечения сферы плоскостями, проходящими через ее
центр) либо как следы сечения сферы параллельными плоскостями. Ни
в том, ни в другом случае расстояние между штрихами не постоянно по
всей поверхности, но законы его изменения несколько различаются и
различаются возникающие аберрации. Если поверхность не сфериче-
ская, а тороидальная или эллиптическая, то "простейших" вариантов
расположения штрихов еще больше. Выбрать лучший можно только по
возникающим аберрациям, да и то возможности выбора обычно огра-
ничиваются имеющейся технологией изготовления решеток. По мере
развития технологий совершенствовались и конструкции решеток, поя-
вились вогнутые решетки с переменным шагом, затемголографиче-
ские решетки (отражающие профили формируются методом объемной
голографии при интерференции двух когерентных пучков), позволив-
шие сделать резкий рывок к улучшению параметров дифракционных
СП.
2.2.1. Дифракция на плоской отражательной решетке
Рассмотрим интерференцию отдельных волн, испытавших ди-
фракцию на соседних отражающих полосках в плоскости
главного сече-
ния
, перпендикулярного штрихам решетки. Интерференционные
максимумы будут наблюдаться в тех направлениях, для которых раз-
18